电离层对高分辨率星载SAR成像的影响4——电离层对方位向成像的影响

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本文中的绘图，均是作者在欧洲轨道测定中心（Center for Orbit Determination in Europe， CODE）官网上下载的数据，然后使用matlab绘制。如需要相关的代码，可以私信或留言。

SAR方位向信号模型

均匀电离层对方位向成像的影响

 一次相位误差

二次相位误差

三次相位误差

 各阶误差的仿真值

在给定的仿真参数下，得到距离历程的各阶系数如下表所示。

系数	R0	α1	α2	α3
值	780281.379804	0	33.973254	0

在TEC=150TECU的极限情况下，各阶相位误差如下表所示

相位误差	LPE	QPE	CPE
值（rad）	8.7605e-28	6.4757e-16	-2.1757e-26

显然，各阶相位误差都极小，因此可以忽略均匀电离层对方位向成像的影响。

非均匀电离层对方位向成像的影响

由仿真可知，在整个合成孔径时间内，卫星飞过200多千米的距离，在这一距离内，电离层的TEC可能会发生变化，进而影响地面目标的距离历程。根据统计，电离层的空间变化的梯度最大可以为0.0021~0.0067TEC/km ，由于电离层的空间变化与太阳照射点的经纬度、太阳活动强度等因素有关，所以上面的最大梯度是一个区间。在200 km 的范围内，TEC的变化范围为0.42~1.34TEC 。假设在合成孔径时间内，TEC在空间上线性变化了0.5TECU，下图给出了不同TEC时的脉压结果。显然，非均匀电离层会对方位向成像产生较大影响。

         

        在雷达飞行过程中，每隔一段时间就使用双频发估计一次电离层TEC，可以获得合成孔径内的TEC的变化情况，进而在成像中补偿TEC空间变化对方位向成像的影响。