电阻失效分析 || 阻值变大导致不良

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分类专栏： 技术分享 失效分析 电子元器件 文章标签： 科技 经验分享
于 2022-07-25 09:08:40 首次发布
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1.案例背景

某产品测试过程中发生功能不良，初步分析不良是因为电阻阻值变大导致。

注：电阻阻值标称值为1KΩ，实际达到几十或几百KΩ。

2.分析过程

2.1 针对原始失效电阻的分析

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电阻#1

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电阻#2

2.1.1 万用表检测

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 34.22 KΩ 电阻#1

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 1.693KΩ 电阻#2

失效品金属膜面均有损伤，且阻值均变大失效。

2.1.2

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电阻器失效分析案例
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介绍了关于电阻器失效分析案例的详细说明，提供电阻器的技术资料的下载。
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失效分析是对电子元器件失效机理、失效原因的诊断过程，是提高电子元器件可靠性的必由之路。元器件由设计、生产、到应用等各个环节，都有可能失效，失效分析贯穿于电子元器件的整个寿命周期。因此，需要找出导致器件失效的前因后果，确定其失效模式，防止相同失效模式和失效机理在相同的元器件上重复出现。另外，失效分析不仅是为了了解、评价电子元器件的可靠性水平，更重要的是要改进、提高电子元器件的可靠性。
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电阻的失效模式与失效机理
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　2) 阻值漂移超规范：电阻膜有缺陷或退化，基体有可动钠离子，保护涂层不良。 　3) 引线断裂：电阻体焊接工艺缺陷，焊点污染，引线机械应力损伤。 　4) 短路：银的迁移，电晕放电。 　2、失效模式占失效总比例表...
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