激光雷达的杂散光与盲区

杂散光对盲区的影响

sipm输出的接收波形如下图所示，一般sipm输出的上升时间1.5ns，恢复时间10~100ns，无论同轴旁轴的光机，在发射打在窗口片上都会有回波直接反射回来，这个反射回来的光就是杂散光，杂散光会被sipm响应，sipm需要时间恢复，在恢复的时间这段再有回波就很难分辨，雷达的盲区就变大了。

在杂散光上的叠加的信号可能如下图所示，在sipm的恢复边沿上长出回波信号，0.5m对应的tof时间3.3ns，sipm的cell如果在杂散光位置响应了，那么在3.3ns这么短的时间是不能恢复再次雪崩的，也就是这个时候就要就要看杂散光有多强了，比如sipm有2000个cell，杂散光只雪崩了1000个，那么在0.5m还有1000个可以雪崩就可以在恢复边沿上有回波信号，如果杂散光把2000个cell都雪崩了，那在恢复边沿上就很难叠加回波了，盲区就变大了，杂散光越小，近距离的信号就会越容易分辨，盲区就越小，所以雷达在解决杂散光的问题上，可以通过打一次低发射功率来测量近距离的信号。

杂散光的产生

在发射打在窗口片时，会在窗口片上直接反射到接收上，在多线激光雷达中，经常会同时有多路发射同时打光，多路的发射会进一步加大杂散光，这是由于不同发射之前的传输时延是有差异的，导致发射错位，那产生杂散光的位置也是错位的，最终使杂散光的宽度展宽，最终叠加后的杂散光如下图中的黑色波形所示。

杂散光的解决

1、在光机设计上解决。这个我也不懂，就不瞎说了。

2、在窗口片上增加抗反射涂层，也就是AR增透。具体原理可以参考：

https://www.eet-china.com/news/40a14574.html

3、在接收这里加一个光开关，通过时序控制到镜头这段时间内的杂散光给不到接收sensor上。

这是速腾的一篇专利提到的。CN 109975785 A

4、硬件设计上还可以通过发射一次低功率，再发射一次高功率，发射低功率时的杂散光较小，远不会饱和，高功率用作远距离测试。这是一种低成本解决杂散光的方式。

这个方式已经被禾赛写了专利：CN 108089201 B