芯片Latch UP测试方法

    首先需要测试芯片正常工作时的电流并记录，然后按以下操作手法进行测试：

1)  芯片接电源,其它引脚接高电平，待测引脚灌入正电流，查看电源电流是否超过原先电流+10mA。超过算fail，没超过算pass

2）芯片接电源,其它引脚接低电平，待测引脚灌入正电流，查看电源电流是否超过原先电流+10mA。超过算fail，没超过算pass

3)  芯片接电源,其它引脚接高电平，待测引脚灌入负电流，查看电源电流是否超过原先电流+10mA。超过算fail，没超过算pass

 4）芯片接电源,其它引脚接低电平，待测引脚灌入负电流，查看电源电流是否超过原先电流+10mA。超过算fail，没超过算pass

5）芯片接1.5X电源。然后所有引脚接高。查看电源电流是否超过原先电流+10mA。超过算fail，没超过算pass

6）芯片接1.5X电源。然后所有引脚接低。查看电源电流是否超过原先电流+10mA。超过算fail，没超过算pass  测试

     下面是AEC-Q100的测试手法，注意需要做高温的latch up 测试