LDO的关闭有过热关闭和主动关闭两种,过热关闭是一种保护措施,避免 LDO器件损坏。谈到 LDO的发热先来介绍一下 LDO效率,当对地电流相对于 Iout很小时,LDO的效率= Vout/Vin。LDO消耗的功耗 P=Pin*(1-Vout/Vin)=Iout*(Vin-Vout)。可以看出 Vin和 Vout压差越大 LDO效率越低,自身消耗的功率越大,发热越大。当发热使温度达到过热关闭门限时,LDO的保护电路启动,关闭 LDO的输出。
上图是将 LDO的输出短路,来快速测试 LDO过热关闭功能,X轴是时间,Y轴是电流。LDO输出短路后,LDO输出最大电流,消耗功耗最大。从图中可以看到,短路后电路骤然增加,经过 40ms左右超过过温门限,LDO关闭,电流为零,再经过 5个毫秒左右温度低于过温门限,LDO恢复输出。由于短路情况没有消除,这个过程循环进行,直到将短路情况去除(电流为0)。过温恢复是有迟滞门限的,避免过于频繁的震荡。
所以为了使 LDO在正常工作电流范围内不过温关闭,就要做好 LDO的散热。LDO的热阻可以从手册中查看,例如 LP2950的热阻说明,要根据所选的封装看热阻参数。例如Vin=12V,Vout=5V,电流输出 150mA时,LDO消耗功率(12-5)*0.15=1.05W。环境温度在 30度时,选择 D型封装,通过热阻推算硅片 PN结温度=30+1.05*97=131度。大于最大允许温度Tj=125度,会产生过温关断。所以在这种情况下要选择热阻更小的封装,或者外加风扇或散热片减小热阻,或者减小 Vin和 Vout的电压差。
LDO的主动关闭是电源控制的一种方法,例如控制下电时序或者控制某一部分电路进入低功耗,主动关闭通过 EN管脚实现。需要注意的是由于 LDO的输出有滤波电容,并且后级芯片的电源管脚上接有电容,所以在关闭后由于电容存储的电荷使输出电压缓慢下降。电压下 降缓慢致使后级电路在低电压上停留的时间较长,对于数字电路可能使电路在非正常供电电压下进入错误状态,这些错误状态可能触发某些危险操作。所以为了避免这些情况需要下电迅速,也就是 LDO关闭后需要对电容放电。如下图
LDO在输出端集成了 MOS管,在关闭输出时对电容放电。例如 LP3995、TLV711双路输出系列电源芯片,集成了这个功能。