微纳加工技术_工艺模块_STI 浅槽隔离

本文主要介绍了集成电路设计中常用的两种隔离技术——LOCOS隔离和STI浅槽隔离,并详细阐述了STI制造流程及其特点。文章指出,由于第一层布线可能引起器件反型,因此需要采用隔离技术。此外,还特别提到了STI制造过程中padoxide的作用及STI槽的理想形态。
摘要由CSDN通过智能技术生成

工艺模块

隔离

因为第一层布线有可能引起器件的反型,所以需要隔离;
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LOCOS 隔离

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氧化层一般500nm厚;22nm工艺的有源区一般也只有100nm的深度;
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STI 浅槽隔离

STI: Shallow Trench Insulation With CMP
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STI 制造流程

  1. pad oxide两个作用: 缓解应力,形成包角;
  2. STI槽并不希望是90°垂直的,因为我们也希望侧壁可以离子注入;
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完成图

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在CMOS工艺中,主要采用的器件隔离技术有以下几种: 1. LOCOS(Local Oxidation of Silicon)隔离技术 LOCOS隔离技术是最早应用于CMOS工艺中的一种隔离技术。它利用化学气相沉积(CVD)或物理气相沉积(PVD)在硅晶片表面沉积氧化硅,形成硅氧化物层,然后在硅氧化物层上用光刻技术形成掩膜,再用高温氧化使得硅氧化物层在掩膜外围呈现出凸起形状,从而形成了硅晶片表面的氧化硅隔离层。 LOCOS隔离技术的主要优点是成本低、工艺简单,适用于制造较大尺寸的器件。但是,由于隔离层周围会形成压缩应力,容易引起晶片表面的缺陷和裂纹,因此不适用于制造小尺寸和高精度器件。 2. STI(Shallow Trench Isolation)隔离技术 STI隔离技术是目前CMOS工艺中应用最广泛的一种隔离技术。它采用光刻技术在硅晶片表面上形成一系列浅槽,然后在槽内沉积氧化硅或氮化硅等材料,最后抛平表面,形成隔离层。 STI隔离技术的主要优点是隔离效果好,能够有效避免晶体管之间的串扰和漏电流,适用于制造小尺寸和高精度器件。但是,STI隔离技术的制造工艺比较复杂,成本较高。 3. SOI(Silicon On Insulator)隔离技术 SOI隔离技术是一种全新的器件隔离技术,它采用在硅晶片表面上形成一层氧化硅或氮化硅等绝缘层,然后在绝缘层上面再生长一层单晶硅,形成了一个硅层-绝缘层-硅基片的结构。 SOI隔离技术的主要优点是能够有效避免晶体管之间的串扰和漏电流,提高器件性能和集成度,适用于制造高速、低功耗的微电子器件。但是,SOI隔离技术的制造工艺非常复杂,成本较高,同时也存在一些技术难点,如SOI层与基片之间的应力问题等。
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