IC Open/Short/Leakage 测试

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于 2022-02-11 22:38:49 首次发布
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        开短路测试(open_short_test)又叫continuity test 或contact test,它是一种非常快速发现芯片的各个引脚间的是否有短路，及在芯片封装时是否missing bond wires.通常都会被放测试程序的最前面.它还能发现测试时接触是否良好，探针卡或测试座是否有问题.

        开短路测试的测试原理比较简单，分open_short_to_VDD 测试和open_short_to_VSS测试.一般来说芯片的每个引角都有泄放或说保护电路,是两个首尾相接的二极管,一端接VDD,一端接VSS。信号是从两个二极管的接点进来.测试时,先把芯片的VDD引脚接0伏(或接地),再给每个芯片引脚供给一个100uA到500uA从测试机到芯片的电流,电流会经上端二极管流向VDD（0伏），然后测引脚的电压,正常的值应该是一个二极管的偏差电压0.7伏左右,我们一般设上限为1.5伏，下限为0.2伏,大于1.5伏判断为openfail,小于0.2伏判断为shortfail.这就是open_short_to_VDD测试.

        open_short_to_VSS测试的原理基本相同.同样把先VDD接0伏，然后再给一个芯片到测试的电流,电流由VSS经下端二级管流向测试机.然后测引脚的电压,同样正常的值应该是一个二极管的偏差电压0.7伏左右,只是电压方向相反,上限还是为1.5伏，下限为0.2伏,大于1.5伏判断为openfail,小于0.2伏判断为shortfail.这就是open_short_to_VSS测试.
zhuangdk
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射频芯片测试之Open/Short、Leakage测试
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06-15 4801
在射频芯片中，客户通常会给相应的TestPlan来标明测试条件，通常情况下，只会测试的pin脚电压，其他都为0，然后测试其leakage，下图是某芯片测试leakage的TestPlan，我们只需要按照要求给指定的PIN脚电压，然后设定正确的参数就能进行leakage测试。在参数设定上，由于在发射频信号时，电源引脚需要提供一个较大的电流，此时仅靠电源pin又不能及时提供大电流出来，那么就需要在电源pin下挂一个大电容，在发射频信号的时候电容瞬间放电，以提供一个大电流能够支撑射频信号发送出去。
ATE测试基础——直流参数测试
你骄傲地飞远的博客
06-14 1905
芯片测试在发展过程中诞生了许多术语，初次接触的人大部分都会被绕晕。因此为方便广大读者理解，在开始介绍测试项之前，需要对测试领域的名词进行解释。还有部分较为抽象的内容，需要略作展开。DUT——Device Under Test，正在被测试的器件Pin——器件引脚，信号引脚分为输入，输出，三态和双向四类，负责与外界进行信息交互；电源引脚分为电源和地两类，结构与信号引脚不同，负责给器件内部运行和外部输出提供电平。输入：在外部信号和器件内部逻辑之间起缓冲作用的信号输入通道;
开短路测试（Open-Short Test）
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weixin_63179412的博客
06-20 903
用以确认器件测试时所有的信号引脚都与ATE相应的通道都完成了电性能上的连接，并且信号引脚与其他信号引脚、电源或地发生短路。用PMU抽取-100uA的电流，设置Limit=（-1.5V,-0.2V）,因为ESD防静电保护二极管的导通压降约为0.7V，检测连接点的电压判断结果。快速检测出 DUT 是否存在电性物理缺陷，如引脚短路、bond wire 缺失、引脚的静电损坏、以及制造缺陷等。另外，在测试开始阶段， Open-Short 测试能及时告知测试机一些与测试配件有关的问题，都置0，钳位电压设置为3V,
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Leakage漏电流测试：PPMU单元IFVM的三种模式（三）
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一．测试目的     Open-Short Test也称为ContinuityTest或Contact Test，用以确认在器件测试时所有的信号引脚都与测试系统相应的通道在电性能上完成了连接，并且没有信号引脚与其他信号引脚、电源或地发生短路。     测试时间的长短直接影响测试成本的高低，而减少平均测试时间的一个最好方法就是尽可能早地发现并剔除坏的芯片。Open-Short测试能快速检测出DU
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