在干扰和箔条环境中的雷达方程

最新推荐文章于 2024-08-09 15:52:06 发布

Zhichao_97

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分类专栏：雷达原理雷达电子战原理文章标签：雷达

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本文探讨了雷达在不同干扰环境下的性能表现，包括搜索雷达、跟踪雷达以及箔条干扰环境中的雷达性能。雷达的最大探测距离受多种因素影响，如功率、孔径、副瓣电平等。

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无干扰环境下的搜索雷达的距离方程为：

$R_{max}^{4}=\left [ \frac{2\sigma T_{f}}{4\pi \Omega (SNR)kT_{s}L_{T}L_{r}L_{ar})} \right ](\bar{P}A_{r})$

式中， $\sigma$ 是目标雷达截面积； $T_{f}$ 是搜索给定立体角 $\Omega$ 所需时间；SNR是给定检测概率（一般为90%）的峰值信噪比； $k$ 是玻耳兹曼常数； $T_{s}$ 是系统噪声温度； $L_{T}$ 是发射损耗因子； $L_{r}$ 是接收损耗因子； $L_{ar}$ 是大气往返传输损耗因子； $\bar{P}$ 是平均发射功率； $A_{r}$ 是接收孔径。可以看出，当方括号内所有量固定时，最大探测距离的四次方与功率口径积成正比，在一阶近似时， $R_{max}$ 与发射频率无关（实际上， $T_{s}$ ， $L_{T}$ ， $L_{r}$ ， $L_{ar}$ 和 $\sigma$ 都是发射频率的函数）。

假设距雷达 $R_{j}$ 处有一阻塞式干扰机，雷达输入端噪声功率密度为：

$P_{N}=kT_{s}+\frac{P_{j}G_{j}A_{r}g_{sl}}{4\pi R_{j}^{2}B_{j}L_{r}L_{aj}}$

式中， $P_{j}G_{j}/B_{j}$ 是干扰机在带宽 $B_{j}$ 内的辐射功率谱密度； $L_{aj}$ 是路径长度 $R_{j}$ 上的大气传输损耗(单程)； $g_{sl}$ 是干扰机方向雷达接收天线相对的副瓣增益。

假设平均噪声功率密度由阻塞噪声功率密度决定，则第一个式子变为：

$R_{max}^{4}=\left [ \frac{2\sigma T_{f}}{4\pi \Omega (SNR)L_{T}L_{ar})} \right ](\frac{B_{j}R_{j}^{2}L_{aj}}{P_{j}G_{j}})(\frac{\bar{P}}{g_{sl}})$

于是，当第一个括号中的雷达参数及第二个括号中的威胁参数给定时，雷达的测距性能仅由平均发射功率与副瓣电平之比决定。上式是远程支援干扰（SOJ）雷达方程。如果令探测距离和 $R_{j}$ 相等，且有 $g_{sl}=1$ ，则方程也可用于自卫式干扰（SSJ)。

对于跟踪雷达，参数估计的精度由下式决定：

$\sigma _{\Theta }^{2}=C\Theta ^{2}/SNR$

式中， $C$ 是常数； $\Theta$ 代表感兴趣参数的分辨单元（仰角、方位角、距离距离变化率)； $\sigma _{\Theta }^{2}$ 是误差方差。干净环境中的雷达方程式可重写为

$R_{max}^{4}=\left [ \frac{2\sigma T_{d}}{(4\pi)^{2} CkT_{s}L_{T}L_{r}L_{ar})} \right ](\frac{\sigma _{\Theta }}{\Theta })^{2}(\bar{PG_{t}A_{r}})$

式中， $T_{d}$ 是照射时间，表示为：

$T_{d}=T_{f}\xi /\Omega$

$\xi$ 是以立体角表示的天线波束宽度，即

$\xi =4\pi /G_{t}$

式中， $G_{t}$ 是雷达天线增益。在给定精度分量要求的条件下，它是建立在武器系统各种考虑（例如，导弹发射精度要求）之上的。故最大跟踪距离正比于功率、孔径和增益三者乘积的1/4次方根。

在以干扰为主的噪声环境中，雷达距离方程是为

$R_{max}^{4}=\left [ \frac{2\sigma T_{d}}{4\pi CL_{T}L_{ar})} \right ](\frac{B_{j}R_{j}^{2}L_{aj}}{P_{j}G_{j}})(\frac{\sigma_{\Theta } }{\Theta })^{2}(\frac{\bar{P}G_{t}}{g_{sl}})$

可以看出，在干扰环境中，雷达探测距离与副瓣电平密切相关。和搜索雷达一样，跟踪雷达中的孔径 $A_{r}$ (无干扰环境）用 $g_{sl}^{-1}$ （存在SOJ)来代替。

下面讨论雷达在箔条干扰环境中的性能。装有MTI 设备的搜索雷达在箔条干扰中的距离方程为：

$R^{2}=\frac{\sigma I_{f}}{C_{d}\Theta \phi r(S/C)L}\gamma$

式中， $C_{d}$ 是箔条后向散射系数（单位为 $m^{2}/m^{3}$ )； $\theta$ 和 $\phi$ 分别代表方位和仰角方向上的波束宽度；r是距离单元大小； $S/C$ 是目标回波功率与检测的箔条单元回波功率之比； $L$ 是总处理损耗； $I_{f}$ 是MTI改善因子； $\gamma$ 是常量。 $I_{f}$ 与照射时间 $T_{d}$ 有关，严格的关系取决于MTI的类型，并与箔条多普勒频谱的各种假设有关。若假设雷达采用 $N$ 个并行接收通道的多波束接收天线，则在搜索模式下，平均照射时间由式 $T_{d}=T_{f}\xi /\Omega$ 得出：

$T_{d}=NT_{f}\theta \phi /\Omega$

将实际值代入式 $R^{2}=\frac{\sigma I_{f}}{C_{d}\Theta \phi r(S/C)L}\gamma$ 后，可以看出为得到较好的探测性能，MTI必须有实质性的提高。这意味着必须有足够的照射时间以便提供大量脉冲进行相参处理，如果波束较窄，那么，必须使用多个并行的接收通道。如果箔条限制在一个有限的区域内，可以采用自适应雷达来对付。此时用牺牲覆盖范围的办法给箔条以额外的照射时间。

可以利用以上公式进行分析设计。有了目标、干扰机和雷达的参数后，可以估算最大探测距离值。设计时主要是选择雷达参数(即发射机功率、天线孔径、副瓣电平、发射机频率)，尽可能增大雷达在干扰中的探测距离。这些方程还可以用来比较不同系统的性能。儿种ECCM策略的效果（如SLC)亦可加以考虑。