插入损耗偏差还是符号间干扰噪声？

在之前的一篇博客中，我讨论了如何通过眼图量化信道质量 [1]。其中解释了如何仅根据直通 S 参数创建眼图。那么，如果仅使用直通 S 参数，反射是否重要？直观地看，它们似乎无关紧要，因为它们不直接用于计算眼图。

S 参数仍然很重要

但是，反射当然很重要！反射会导致信号完整性问题，我想通过展示传输参数、插入损耗 (IL)、反射参数和回波损耗 (RL) 之间的关系来解释反射是如何造成的。简而言之，RL 会从 IL 中夺走功率。例如，这是平面波在边界处的行为[2]。

T 是传输系数（传输了多少功率），Γ 是反射系数（反射了多少功率）。

该方程用其他方程的功率和系数来表示，当该方程转换为电压和 S 参数时，它看起来像这样。

这个方程非常有用，因为它可以直接应用于我们从测量或模拟中获得的 S 参数。以下是该方程的绘图。

这里的要点是反射会减弱直通信号。

在继续之前，我想先简单谈谈插入损耗 (IL) 和回波损耗 (RL) 的命名法。由于这些术语包含“损耗”一词，因此当值为负时，这意味着它们会增加系统的功率。换句话说，如果存在负损耗，则结果为增益。但是，传输参数图通常称为插入损耗，因此显示负数。这已成为行业交流的标准方式。因此，在本文中，我将遵循这一做法：插入损耗和回波损耗将为负值。 

插入损耗偏差 (ILD)

除此之外，一旦 RL 超过 -10 dB，IL 就会显著降低，这一点在 S 参数中很容易看出。我使用 QUCS 通过建模无损 Beatty 结构[3] 轻松获得一些反射 S 参数。Beatty 结构是由较大的不连续性创建的串联谐振器。这里的不连续性是两条具有不同阻抗的传输线之间的传输线。

正如在 RL 与 IL 图表中所观察到的，您可以看到，在 RL 超过 -10 dB 的频率处，IL 明显较低。因此，也许我们可以通过观察这些下降来确定反射如何影响系统。业界将这些下降称为插入损耗偏差 (ILD)，它是由 Adam Healey 于 2009 年首次提出的[4]。他观察到，系统脉冲响应偏离标称值越大，插入损耗偏离标称值就越大。 

要计算 ILD，请使用下面的方程组来拟合插入损耗。 

每个频率系数都有物理意义。直流损耗假设为零，平方根系数 (a1) 表示趋肤效应，幂和平方系数 (a2 和 a4) 表示介电损耗。此外，趋肤效应已证实会影响除直流之外的所有项 [5]。因此，使用这些项，您可以使用以下公式获得与插入损耗非常吻合的系数。

最后，ILD 是测量的 IL 与拟合值之间的差值。 

当没有反射时，ILD 很小，IL 匹配良好，ILD 正如您所期望的那样小

当有反射时，情节看起来会更糟。

此 ILD 图可以有限制或掩码，这为 SI 工程师在减少反射时提供了目标数量。此外，我们可以使用 FOM ILD 用一个数字量化反射 [6]。

看起来我们的工作已经完成了，对吧？我们现在有一种方法可以仅通过插入损耗来量化反射，并且可以用一个数字来描述它们。好吧，也许我们现在可以就此打住，但话又说回来，我们没有检查 FOM ILD 是否与 COM 相关。

渠道营业利润率 (COM)

在 COM 中，与反射相关的噪声在采样点处及时确定，并计算我们感兴趣的错误率。这个指标被称为 ISI 噪声，这里是如何计算包括 ISI 噪声在内的 COM 的原始提案。

ISI 噪声是采样点后直通内所有切片的总和。切片是距离脉冲响应采样点 nUI(s) 的点。其中“n”为 1 至无穷大，UI 是位宽或单位间隔（以秒为单位）。脉冲响应是注入单个数据位后系统的时域响应。下图有助于澄清这些陈述。

红线是均衡前的脉冲响应——对于我们的目的来说，它毫无意义，所以忽略它。蓝线是均衡后的脉冲响应，这是用于量化信道质量的数据集。蓝色均衡脉冲响应顶部的绿色圆圈是采样点。在 COM 中，有一个方程定义此点的位置。其他工具，如 Seasim 只选择峰值。就我个人而言，我喜欢只选择峰值，但这无关紧要。圆圈是切片。如果在非零水平有一个圆圈，它会给系统增加噪音。粉红色圆圈（请原谅我对颜色的工程知识）是 DFE 消除的噪声贡献者。其余的黑色圆圈是增加 ISI 噪声的因素。在上图中，看起来 DFE 几乎处理了所有事情，但在下一个图中你可以看到仍然有大量来自反射的噪音。

呃。即使我们只考虑用于 FOM 的方差，这也比 ILD 困难得多！因此，重要的是要确定这样做是否值得。首先要认识到的是，公开可用的 COM 代码会为您提供这个数字，而 COM 代码是免费的，易于使用。其次，COM 是在数据速率和技术的背景下确定的。数据速率就是您发送比特的速度，而技术与 SERDES 的质量有关。 

对于这个实验，我使用了 IEEE 802.3bj 的最新 COM 脚本并使用了 100GBASE-CR4 电子表格。由于我在 QUCS 中实现了无损传输线，因此我利用了 COM 在 CR4 设置中添加传输线损耗这一事实。 

COM 考虑了几种信号衰减源。首先是 SERDES 封装。SERDES 封装有损耗和两次反射：一次来自芯片 (Cd)，一次来自焊盘 (Cp)。其次，COM 实现了与 SERDES 技术相关的固有噪声。这些源包括封装串扰以及发射器保持电压水平的能力。话虽如此，很容易看出，即使考虑无反射的无损传输线（这是第一个数据集），COM 也会有一个上限。 

我仅使用第一个 COM 方案就消除了焊盘引起的反射。在此方案中，封装被视为 12mm。第二个方案未使用，长度为 30mm。COM 脚本中实现的理想 DFE 可以完全消除 12mm 封装的反射，而在第二个方案中，DFE 不够长，无法减轻封装反射。简而言之，封装反射不是此分析中的变量。使用无损传输线可使信号量保持不变。最后，系统噪声是一个常数，因为我对所有计算都使用相同的 COM 脚本。唯一改变的是反射传输线阻抗。因此，此设置可以很好地隔离反射。 

应该由ILD、ISI还是COM来测量传输线路质量？

我对上图的印象是，COM 与 ILD 的趋势并不好。这并不可怕，但它还没有达到我愿意用我的职业生涯来打赌的水平。所以你需要问问自己，ILD 真的有效吗？我与许多 OEM 讨论了他们的内部指标，ILD 经常出现。事实上，我想说该领域的大多数仍然高度依赖 ILD 作为传输线质量的指标。但他们应该这样做吗？这足够吗？我认为在 100GBASE-CR4（以及 KR4）的背景下，它可能足够。然而，可能存在一个临界点，即 ILD 不够用。此外，我当然不会相信限制组件的 ILD 规范，因为 COM 应该用于整个通道，而不是通道的一部分。如果仅使用 ILD 来量化组件，我相信一旦将组件放入链接中，就会出现错误的通过和失败结果。 

那么，结论是什么：ISI 还是 ILD？在我看来，ILD 是一种很好的嗅探测试。它非常容易计算，可以用 excel 或免费编码语言轻松完成，并且可以很好地了解反射的作用。ISI 噪声可以真实地了解正在发生的事情，在这方面它总是比 ILD 更好。话虽如此，我认为仅仅依靠 COM 脚本给出的 ISI 是不够的。记住，我说采样点是由一个方程式选择的。这并不意味着所有 SERDES 都会选择那个点。我认为要完全了解正在发生的事情，您需要扫描其中几个采样点，看看您是否确实总是有一个通过的数字。如果你要依赖一个，我推荐 ISI。如果你正在进行扫描或在深入研究时域之前需要快速检查，ILD 就可以了。 

顺便提一下，我上面提到 COM 是免费的，我指的是对 MATLAB 的需求。虽然对于一家价值数百万美元的公司来说，MATLAB 的商业用途并不昂贵。但是，对于试图从“大人物”那里赚钱的个人来说，这是一笔不小的投资（相信我，我知道）。如果 COM 在不久的将来移植到 Python 或 Octave，我们自由职业者的情况会好得多。在那之前，当谈到做生意的成本时，我们必须忍受或闭嘴。 

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参考：

[1] Jason Ellison，《渠道营业利润率没那么糟糕》，https://resources.altium.com/pcb-design-blog/what-is-channel-operating-margin

[2] D. Pozar，《电磁理论》，《微波工程》，第 3 版，纽约，Wiley

[3] 量子计算：http://qucs.sourceforge.net/

[4] Adam Healey，40/100GBASE-CR4/10的噪声考虑因素，  http://www.ieee802.org/3/ba/public/jul09/healey_02_0709.pdf

[6] A. Koul、MY Koledintseva、S. Hinaga 和 JL Drewniak，“印刷电路板中介电损耗和粗糙导体损耗的差分外推法”，IEEE 电磁兼容性汇刊，第 54 卷，第 2 期，第 421-433 页，2012 年 4 月

[6] OIF-CEI-04.0，2017 年 12 月 29 日