耗尽层宽度取决于杂质离子的浓度;
在掺杂半导体中,多数载流子由杂质离子提供,少数载流子由本征激发(形成电子空穴对),故而,在高掺杂浓度下,多数载流子的扩散运动大于PN结内建电场形成的少数载流子的漂移运动,同时削弱了内建电场,即耗尽层宽度变窄,此时整个运动过程即是半导体正向导通的状态。
本征激发是共价键中的电子在温度升高或者受到光照时,挣脱原子核的束缚,成为自由电子的过程;
PN结(空间电荷区/耗尽层/阻挡层)
P区(positive正极)->多数载流子为空穴,本征激发产生电子空穴对,少数载流子为自由电子;
N区(negative负极)->多数载流子为自由电子;