Q: LBIST是什么?应用场景是什么?实现的方法是什么?挑战是什么?
A: LBIST 是logic build in self test. 就是对逻辑进行内建自测试,不同于ATPG, LBIST的测试激励是由on-chip的电路自己产生,对功能逻辑进行扫描测试。不依赖于ATE机台,直接在板上进行测试,甚至芯片部署到产品中以后也可以进行in-system 的测试。LBIST的开发难度大、开发周期长,对芯片面积也有很大的开销,一般都是对可靠性要求比较高的芯片才做LBIST,像消费类的产品鲜有做lbist的。由于LBIST on chip产生的激励是伪随机的,coverage一般不高,并且对芯片中的X-source敏感,芯片中的X-source会直接crash LBIST,所以进行lbist设计,清理芯片中的x-source是很大一部分工作量。