【SOC 芯片设计 DFT 学习专栏 --DFT（Design for Test）中的 Tessent 和 TestMAX 工具】

DFT tools Tessent 和 TestMAX

DFT（Design for Test）中的 Tessent 和 TestMAX 工具详细介绍
在集成电路（IC）测试 领域，Tessent 和 TestMAX 是两种广泛使用的 DFT（Design for Test）工具集，它们用于提高芯片的可测试性，降低测试成本，并提高测试覆盖率。

1. Tessent（西门子 Mentor Tessent）

Tessent 是 Siemens EDA（原 Mentor Graphics） 提供的一整套 DFT 解决方案，主要用于：

• 逻辑测试（Logic Test）

• 扫描链插入（Scan Insertion）

• ATPG（Automatic Test Pattern Generation）

• BIST（Built-in Self Test，自测）

• JTAG 和边界扫描（Boundary Scan）

• 诊断与良率分析（Diagnosis & Yield Analysis）

Tessent 主要工具

Tessent 组件	主要功能
Tessent Scan	插入扫描链（Scan Chain），使芯片可测试
Tessent ATPG	生成自动测试向量（ATPG），提高故障覆盖率
Tessent Diagnosis	诊断失败芯片，定位故障位置
Tessent MemoryBIST	生成和插入内存自测试（MBIST）
Tessent Boundary Scan	用于 JTAG 及 IEEE 1149.1/1149.6 边界扫描
Tessent LogicBIST	内部逻辑自测试（LBIST）
Tessent YieldInsight	良率分析工具

Tessent 使用示例

1. 扫描链插入

# 读取设计
read_design -rtl my_design.v

# 设置 DFT 规则
set_dft_configuration -scan_style muxed_scan

# 插入扫描链
insert_scan

# 生成测试向量
run_atpg -mode stuck_at -output test_vectors.stil

# 保存设计
write_design -out my_design_dft.v

这段 Tessent Scan 的脚本完成了：

• 读取 RTL 设计

• 插入扫描链

• 生成 ATPG 测试向量

• 输出 DFT 版本的 RTL

2. TestMAX（Synopsys TestMAX）

TestMAX 是 Synopsys 提供的一系列 DFT 工具 ，用于 IC 设计中的自动测试生成（ATPG）、BIST、诊断等。
TestMAX 主要工具

TestMAX 组件	主要功能
TestMAX DFT	插入扫描链、JTAG、边界扫描
TestMAX ATPG	生成 ATPG 测试向量
TestMAX LogicBIST	逻辑内建自测试（LBIST）
TestMAX MBIST	存储器自测试（MBIST）
TestMAX Diagnosis	失败芯片的故障诊断
TestMAX Shell	DFT 设计的综合环境

TestMAX 使用示例

1. 扫描链插入

# 读取设计
read_verilog my_design.v

# 设置 DFT 规则
set_dft_options -scan_chain_length 100

# 插入扫描链
insert_dft

# 生成 ATPG 测试向量
run_atpg -fault_model stuck_at -output test_vectors.stil

# 保存 DFT 设计
write_verilog my_design_dft.v

这段 TestMAX DFT 的脚本完成：

• 读取 Verilog 设计

• 插入扫描链

• 生成 ATPG 测试向量

• 输出修改后的 DFT 设计

3. Tessent vs TestMAX 对比

特性	Tessent（Siemens EDA）	TestMAX（Synopsys）
厂商	Siemens EDA（Mentor Graphics）	Synopsys
扫描链插入	Tessent Scan	TestMAX DFT
ATPG	Tessent ATPG	TestMAX ATPG
诊断	Tessent Diagnosis	TestMAX Diagnosis
逻辑 BIST	Tessent LogicBIST	TestMAX LogicBIST
存储器 BIST	Tessent MemoryBIST	TestMAX MBIST
边界扫描	Tessent Boundary Scan	TestMAX DFT

总结：

• Tessent 主要用于 Mentor/Siemens 生态系统（如 Calibre、Questa），适用于 Mentor 工具链用户。

• TestMAX 适用于 Synopsys 生态系统，适合与 Synopsys IC Compiler、PrimeTime、DFT Compiler 配合使用。

4. 结论

• Tessent 和 TestMAX 都是业界主流的 DFT 工具 ，支持扫描测试（Scan）、ATPG、BIST 和诊断。

• 选择哪个工具取决于公司现有的 EDA 生态 ：

  • 如果公司主要使用 Synopsys 工具（如 Design Compiler、IC Compiler），推荐使用 TestMAX。

  • 如果公司主要使用 Siemens EDA（如 Calibre、Questa），推荐使用 Tessent。

5. 典型应用

场景	使用工具
DFT 插入（Scan/MBIST）	Tessent Scan / TestMAX DFT
ATPG 生成测试向量	Tessent ATPG / TestMAX ATPG
JTAG & IEEE 1149.1 兼容	Tessent Boundary Scan / TestMAX DFT
芯片故障诊断	Tessent Diagnosis / TestMAX Diagnosis

这两种工具都是主流 DFT 方案的核心部分，企业通常会选择与自身 EDA 设计工具兼容 的 DFT 解决方案。

6. 未来发展

• DFT 趋势

  • AI 辅助测试优化 （减少 ATPG 运行时间）

  • 高效 BIST 设计 （提升 SoC 自测试能力）

  • 基于数据分析的良率优化

• 新一代工具

  • Siemens 推出 Tessent Streaming Scan Network（SSN） ，提高 SoC 设计的测试效率

  • Synopsys TestMAX Advisor 提供 AI 驱动的测试优化

Tessent 和 TestMAX 都在不断演进，以满足更复杂的芯片设计需求！🚀