mom mim mos

MIM电容的优点:

可以利用Via和特殊工艺分别将奇数层连接(M9, M7, M5)和偶数层 (M8,M6, M4)连接,这样可以增加单位面积电容。

MIM电容的缺点:

在65nm工艺下,即便用上9层金属和Poly去构建MIM,其单位面积电容也只有(1.4fF/微米平方),而寄生电容Cp可以达到总电容的10%。

MOM电容的优点:

-高单位电容值

-低寄生电容

-对称平面结构

-优良RF特性

-优良匹配特性

-兼容金属线工序,无需增加额外工序

在先进CMOS制程中,MOM电容已经成为最主要的电容结构。在28nm工艺中,固定电容只有唯一的MOM形式。

MOS电容的优缺点:

MOS电容主要的优势就是节省面积、方便;缺点则是,MOS电容其实是个“压控电容”,当上下两个极板的压差发生变化,容值也会跟着改变,这在要求高精度的电路中,几乎是致命的。在微弱信号采集的前端模拟电路中,MOS电容并不适用。

总结

MOS电容:两端结构的mos管,电容值不精确,可以实现随控制电压变化而变化的容值,上下极板接法不可互换。
MOM电容:finger 插指电容,即利用同层metal边沿之间的C。为了省面积,可以多层metal叠加,PDK中metal层数可以选择。一般只在多层金属的先进制程上使用,因为是通过多层布线的版图来实现的,但得到的电容值确定性和稳定性不如MIM,一般可能会用在那种对电容值要求不高,只是用到相对比值之类的应用。上下极板接法可互换。
MIM电容:类似于平板电容,电容值较精确,电容值不会随偏压变化而变化,一般制程上用mTOP l & mTOP -1 来做,电容值可以用上级板面积*单位容值来进行估算,上下极板接法不可互换,一般用于analog,RF工艺。

<think>好的,用户想了解在Cadence版图设计中MIM电容的连线方法。首先,我需要回忆之前提供的关于MIM电容的结构和设计流程,并结合用户提到的单元(Cell)的不同视图(View)概念来组织回答。用户可能已经知道MIM的基本结构,但需要具体的连线步骤和注意事项。 用户的问题涉及版图设计中的连线方法,需要具体说明如何在Cadence Virtuoso中进行物理连接。可能需要分步骤讲解,包括金属层选择、过孔使用、匹配布线等。此外,用户可能关心如何确保LVS验证通过,避免DRC错误,所以需要强调验证步骤。 另外,用户之前的问题提到了单元的不同视图,如symbol、schematic和layout,因此在连线时要确保不同视图的一致性。可能需要提到如何从symbol视图映射到layout的实际连接,确保电气特性的正确性。 需要注意用户可能对Cadence操作界面不熟悉,所以需要提供具体的操作步骤,比如如何调用MIM电容的layout视图,如何绘制金属层,设置过孔等。同时,用户可能遇到连线错误导致LVS不匹配的问题,需要给出解决方法,比如检查端口命名和连接路径。 还要考虑用户的实际应用场景,比如高频电路中的MIM电容需要特别注意寄生参数和匹配布局,这可能需要在连线方法中提及优化技巧,比如对称布线和屏蔽保护。 最后,生成相关问题时要围绕MIM电容的版图设计深入,比如参数优化、高频影响、验证失败处理等,帮助用户进一步学习。</think>### Cadence版图设计中MIM电容的连线方法 在Cadence Virtuoso中进行MIM(金属-绝缘体-金属)电容的版图设计时,**连线方法**直接影响器件的电气性能和LVS验证结果。以下是具体操作步骤与注意事项: --- #### **1. MIM电容结构对应的金属层与过孔** MIM电容通常由**顶部金属层(Top Metal)**和**底层金属(Bottom Metal)**构成,中间通过**高介电常数材料(如SiN)**隔离。连线时需注意: - **底层金属(Bottom Metal)**:连接至电容的下极板,通常通过下层金属(如Metal5)布线。 - **顶部金属(Top Metal)**:连接至电容的上极板,使用顶层金属(如Metal6)直接覆盖电容区域。 - **过孔(Via)**:确保极板与外部电路连接的过孔数量足够,以降低接触电阻[^1]。 **操作示例**: 1. 在电容版图视图中,选择底层金属层(如Metal5)绘制下极板。 2. 在电容区域上方叠加顶部金属层(如Metal6)作为上极板。 3. 使用过孔阵列(Via Array)将极板连接至外围电路。 --- #### **2. 匹配与对称布线(高频应用关键)** 对于射频或模拟电路,MIM电容的**对称性**和**匹配性**至关重要: - **差分电容**:需严格对称布线,两电容的极板路径长度和宽度应一致,避免引入相位误差。 - **屏蔽保护**:在敏感电容周围添加接地金属环(Guard Ring),减少串扰。 - **寄生优化**:缩短走线长度,避免使用高寄生电阻的金属层。 **示意图**: ``` 上极板(Metal6) ──── Via ──── 外部电路(Metal6) │ 绝缘层(SiN) │ 下极板(Metal5) ──── Via ──── 外部电路(Metal5) ``` --- #### **3. 端口命名与LVS验证一致性** MIM电容的版图必须与电路图(Schematic)的端口命名完全一致,否则LVS验证会失败: - **端口标签(Label)**:在电容极板的金属层上添加`PIN`标签,例如: - 下极板标签:`BOT` 或 `MINUS` - 上极板标签:`TOP` 或 `PLUS` - **层次化连接**:若电容作为子模块被调用,需确保其符号视图(Symbol)的引脚与版图端口对齐[^1]。 **常见错误**: - **未标注端口**:导致LVS无法识别电容两极的连接关系。 - **金属层混淆**:错误使用非指定金属层(如用Metal4代替Metal5)导致电容值偏差。 --- #### **4. 连线实例(以单端电容为例)** 1. **调用MIM电容单元**: - 从PDK库中调用预定义的MIM电容单元(如`mim_cap_1fF`),确保其包含`layout`视图。 2. **绘制金属连线**: - 使用Metal5连接下极板至目标节点(如运放的偏置点)。 - 使用Metal6连接上极板至另一节点(如电源或信号路径)。 3. **添加过孔与保护环**: - 在极板边缘均匀分布过孔(Via5-6)。 - 围绕电容绘制N-well或Metal Guard Ring并接地。 ```tcl # 示例:在版图中添加MIM电容并连线 createInst "C1" "mim_cap_1fF/layout" createWire Metal5 (路径坐标) ;# 下极板连线 createWire Metal6 (路径坐标) ;# 上极板连线 addVia "VIA56" (坐标) ;# 连接Metal5和Metal6 ``` --- #### **5. 验证与调试** 完成布线后必须执行以下检查: 1. **DRC(设计规则检查)**:确认金属间距、过孔尺寸等符合工艺要求。 2. **LVS(版图与电路图一致性检查)**: - 确保版图端口与电路图网表匹配。 - 若报错`unmatched ports`,检查标签命名是否一致[^2]。 3. **寄生提取(PEX)**:评估电容实际值及寄生电阻/电容的影响。 --- ### 相关问题 1. 如何优化MIM电容的版图设计以降低寄生效应? 2. 在高频电路中,MIM电容的匹配布线有哪些特殊要求? 3. 如果LVS验证提示电容端口不匹配,应如何快速定位问题? --- ### 关键点总结 - **金属层选择**:严格遵循PDK定义的金属层规则。 - **对称性与匹配**:高频应用中需避免非对称布线引入的误差。 - **验证一致性**:端口命名和层次化连接需与电路图完全对应[^1][^2]。
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