请阅读【ARM Coresight SoC-400/SoC-600 专栏导读】
 
文章目录
概述
本节内容主要介绍 JTAG Debug Port 、Debug Test Access Port (DBGTAP), Debug Test Access Port State Machine (DBGTAPSM), 和 scan chains。
本节对对 IEEE 1149.1中的一些专业名词加了前缀 “DBG”
| IEEE 1149.1 name | JTAG-DP name | JTAG-DP description | 
|---|---|---|
| TAP | DBGTAP | Debug Test Access Port. | 
| TAPSM | DBGTAPSM | Debug Test Access Port State Machine. | 
1.1 DP elements
DP 必须包含下
 
                       
                       
                         
                             
                             
                           
                           
                             本文详细介绍了ARM Coresight中的JTAG Debug Port(JTAG-DP),包括DP元素如TAP状态机、IR和DR寄存器,以及JTAG-DP的信号连接和指令扫描链。文中还阐述了DPv3 JTAG-DP如何访问AP,并提及了DP和AP寄存器的访问机制。
本文详细介绍了ARM Coresight中的JTAG Debug Port(JTAG-DP),包括DP元素如TAP状态机、IR和DR寄存器,以及JTAG-DP的信号连接和指令扫描链。文中还阐述了DPv3 JTAG-DP如何访问AP,并提及了DP和AP寄存器的访问机制。
           
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