【ARM Coresight 系列文章 3.5 - ARM Coresight -- JTAG-DP(JTAG Debug Port) 详细介绍】

请阅读【ARM Coresight SoC-400/SoC-600 专栏导读】

概述

本节内容主要介绍 JTAG Debug Port 、Debug Test Access Port (DBGTAP), Debug Test Access Port State Machine (DBGTAPSM), 和 scan chains。

本节对对 IEEE 1149.1中的一些专业名词加了前缀 “DBG”

IEEE 1149.1 name	JTAG-DP name	JTAG-DP description
TAP	DBGTAP	Debug Test Access Port.
TAPSM	DBGTAPSM	Debug Test Access Port State Machine.

1.1 DP elements

DP 必须包含下面内容才能支持JTAG scan chains:

• TAP 状态机，DBGTAPSM；
• IR 寄存器( Instruction Register )；
• DR 寄存器（Data Registers）。

下图展示了 scan chanins 访问资源的示意图：

(1) 从物理连接视角：