[开题]OCC(on-chip-clock)

90nm工艺以下，针对高速时钟和大规模电路，传统芯片test方法，已经不再精确有效；需要更深入的检测delay导致的不利影响。
at-speed scan test，可以测试transition-delay faults，并支持ATPG（synopsys公司提供的一套标准，全名automatic test pattern generation）。即检查传输延迟。
lanch clock和capture clock，这两个概念，就是lanch cycle和cpature clock

ATE（automatic test equipment），设备太昂贵；普通ATE，也无法提供足够高的时钟频率。at-speed scan test可以放在片内，利用内部高速时钟信号。
问题？ATE有什么优势？

stuck-at faults。即固定值方面的故障。
OCC控制器clock chain logic能够消除亚稳态。
问题：