90nm工艺以下,针对高速时钟和大规模电路,传统芯片test方法,已经不再精确有效;需要更深入的检测delay导致的不利影响。
at-speed scan test,可以测试transition-delay faults,并支持ATPG(synopsys公司提供的一套标准,全名automatic test pattern generation)。即检查传输延迟。
lanch clock和capture clock,这两个概念,就是lanch cycle和cpature clock
ATE(automatic test equipment),设备太昂贵;普通ATE,也无法提供足够高的时钟频率。at-speed scan test可以放在片内,利用内部高速时钟信号。
问题?ATE有什么优势?
stuck-at faults。即固定值方面的故障。
OCC控制器clock chain logic能够消除亚稳态。
问题: