Cadence virtuoso 仿真MOS C-V曲线

MOS电容:cgg=cgb+cgd+cgs

dc仿真结束后,在Tools-Result browses找到cgg右击放进计算器里面,再放在输出框

对栅极电压进行参数扫描

得到MOS电容随栅极电压的变化曲线

### MOS电容在Cadence中的高频和低频特性仿真 #### 1. MOS电容的频率依赖性 MOS电容器的电容-电压(C-V)特性表现出显著的频率依赖性。当施加不同频率的小信号激励时,C-V曲线会发生变化。对于低频情况,空间电荷区宽度主要由直流偏置决定,在此条件下,电容表现为接近理想的平板电容行为[^1]。 ```matlab % MATLAB代码用于绘制理想情况下MOS电容随频率变化的关系图 frequencies = logspace(0, 8, 50); % 频率范围从1 Hz到100 MHz capacitance_low_freq = ones(size(frequencies)); % 假设低频下的恒定电容量 figure; loglog(frequencies, capacitance_low_freq); xlabel('Frequency (Hz)'); ylabel('Capacitance (F)'); title('Low Frequency C-V Characteristics'); grid on; ``` 然而,在高频下,由于存在寄生效应和其他非理想因素,实际测得的电容值可能会偏离理论预期。特别是,随着频率增加,表面态陷阱电荷的影响变得更加明显,这可能导致有效氧化层厚度看似增大,从而降低观测到的电容值[^3]。 #### 2. Cadence中设置仿真的具体步骤 为了研究这些现象,在Cadence Virtuoso平台内可以按照如下方式配置AC分析: - 打开项目并加载目标器件模型; - 创建一个新的原理图文件并将所需元件放置其中(例如nmos或pmos晶体管); - 添加必要的电源节点、接地连接及其他辅助组件; - 设置输入端口以接收正弦波形作为测试信号源; - 转至`Analysis->Choose Analysis Type...`,选择`AC Sweep/Noise`; - 定义起始与终止频率区间,通常覆盖感兴趣的操作带宽; - 对于更精确的结果,考虑细化扫频步长参数; - 启动仿真过程并通过图表查看输出数据。 ```tcl # TCL脚本片段展示如何启动一次完整的AC sweep操作 set analysis_type "ac" create_analysis $analysis_type \ -start_frequency {1kHz} \ -stop_frequency {1GHz} \ -number_of_points_per_decade 100 \ -output_file_name "cv_characteristics.txt" run_simulation plot_results cv_characteristics.txt ```
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