FPGA实现边沿检测电路（上升沿、下降沿）

FPGA实现边沿检测电路（上升沿、下降沿）
1、什么是边沿检测
边沿检测用于检测信号的上升沿或下降沿，通常用于使能信号的捕捉等场景。

2、采用1级触发器的边沿检测电路设计（以下降沿为例）
2.1、设计方法
设计波形图如下所示：

各信号说明如下：

sys_clk：基准时钟信号（这里设定为50MHz，周期20ns）
sys_rst_n：低电平有效的复位信号
in：输入信号，需要对其进行下降沿检测
~in：输入信号的反相信号
in_d1：对输入信号寄存一拍
in_neg：得到的下降沿指示信号，该信号为 ind1 && ~in
对上图进行分析：

信号in是我们需要对其进行下降沿检测的信号
信号~in是将信号in反向
信号in_d1是使用寄存器寄存in信号，即对其进行打拍，或者说是同步到系统时钟域下
输入信号开始为高电平，在L2处变为低电平，产生第1个下降沿，在L5出产生第2个下降沿
A处为产生的第1个下降沿指示信号，B处为产生的第2个下降沿指示信号
由此我们可以推导出边沿检测信号产生的一般方法：

将需要检测的信号寄存一拍，同步到系统时钟域下，得到信号 in_d1
将需要检测的信号反向，得到信号 ~in
将信号 in_d1 反向，得到信号 ~in_d1
通过组合逻辑电路可以得到下降沿信号 in_neg：assign in_neg = ~in && in_d1
同样通过组合逻辑电路可以得到上升沿信号 in_pos：assign in_pos = in && ~in_d1
双边沿检测就是将上两条加（或运算）起来就可以了，化简后有：双边沿信号 in_both = in ^ ind1
2.2、Verilog实现
根据上文分析不难编写Verilog代码如下：

//使用1级寄存器的下降沿检测电路
module detect_1
(
input sys_clk, //时钟（设定为 50MHz）
input sys_rst_n, //复位信号（n 表示低电平有效）
input in, //需要进行下降沿检测的输入信号

output		in_neg			//输出的下降沿指示信号

);
//reg 定义
reg in_d1; //寄存一拍的信号

assign in_neg = ~in && in_d1; //组合逻辑得到下降沿
//上升沿： assign in_pos = in && ~in_d1;
//双边沿： assign in_pos = in ^ in_d1;

//寄存模块，将输入信号打一拍
always@(posedge sys_clk or negedge sys_rst_n)begin
if(!sys_rst_n)
in_d1 <= 1’b0; //复位清零
else
in_d1 <= in; //寄存一拍
end

endmodule

2.3、RTL电路

上图为生成的RTL电路：该电路由一级D触发器+与逻辑门构成。

2.4、Testbench
Testbench文件需要例化刚刚设计好的模块，并设置好激励。

`timescale 1ns/1ns //时间刻度：单位1ns,精度1ns

module tb_detect_1(); //仿真模块

//输入reg 定义
reg sys_clk;
reg sys_rst_n;
reg in;

//输出wire定义
wire in_neg;

//设置初始化条件和输入激励
initial begin
sys_clk = 1’b0; //初始时钟为0
sys_rst_n <= 1’b0; //初始复位
in <= 1’b0; //初始化输入信号
/以下部分为设置的激励，以产生2个下降沿**/
#10 //10个时间单位后
sys_rst_n <= 1’b1; //拉高复位（此时复位无效）
in <= 1’b1; //拉高输入
#20 //20个时间单位后
in <= 1’b0; //拉低输入，制造第1个下降沿
#80 //80个时间单位后
in <= 1’b1; //拉高输入
#60 //60个时间单位后
in <= 1’b0; //拉低输入，制造第2个下降沿
end

//always代表重复进行，#10代表每10个时间单位
//每10个时间单位反转时钟，即时钟周期为20个时间单位（20ns）
always #10 sys_clk = ~sys_clk;

//例化被测试模块
detect_1 detect_1_inst
(
.sys_clk (sys_clk ),
.sys_rst_n (sys_rst_n ),
.in (in),

.in_neg 	(in_neg) 		

);

endmodule

2.5、仿真结果
使用ModelSim执行仿真，仿真出来的波形如所示：

从波形图可以看到：

10ns后停止复位
在第1条参考线处输入信号 in 产生了第1个下降沿信号
在第3条参考线处输入信号 in 产生了第2个下降沿信号
在第1条参考线和第2条参考线之间的产生了一个周期的下降沿指示信号 in_neg
在第3条参考线和第4条参考线之间的产生了一个周期的下降沿指示信号 in_neg

3、采用2级触发器的边沿检测电路（以下降沿为例）

3.1、设计方法
设计波形图如下所示：

各信号说明如下：

sys_clk：基准时钟信号（这里设定为50MHz，周期20ns）
sys_rst_n：低电平有效的复位信号
in：输入信号，需要对其进行下降沿检测
in_d1：对输入信号寄存1拍
in_d2：对输入信号寄存2拍
~in_d1：in_d1信号的反相信号
in_neg：得到的下降沿指示信号，该信号为 ~ind1 && ind2
对上图进行分析：

信号in是我们需要对其进行下降沿检测的信号
信号in_d1是使用寄存器寄存in信号，即对其打1拍
信号in_d2是使用寄存器寄存in_d1信号，即对其打1拍
信号~in_d1是将信号in_d1反向
输入信号开始为高电平，在L2处变为低电平，产生第1个下降沿，在L5出产生第2个下降沿
A处为产生的第1个下降沿指示信号，B处为产生的第2个下降沿指示信号
输出的下降沿指示信号落后下降沿一个时钟周期，这是因为对输入信号进行了寄存以消除亚稳态
由此我们可以推导出边沿检测信号产生的一般方法：

将需要检测的信号分别寄存1拍、2拍，同步到系统时钟域下，得到信号 in_d1、in_d2
将in_d1信号反向，得到信号 ~in_d1
将in_d2信号反向，得到信号 ~in_d2
通过组合逻辑电路可以得到下降沿信号 in_neg：assign in_neg = ~in_d1 && in_d2
同样通过组合逻辑电路可以得到上升沿信号 in_pos：assign in_pos = in_d1 && ~in_d2
双边沿检测就是将上两条加（或运算）起来就可以了，化简后有：双边沿信号 in_both = in_d1 ^ in_d2
3.2、Verilog实现
根据上文分析不难编写Verilog代码如下：

//使用1级寄存器的下降沿检测电路
module detect_2
(
input sys_clk, //时钟（设定为 50MHz）
input sys_rst_n, //复位信号（n 表示低电平有效）
input in, //需要进行下降沿检测的输入信号

output		in_neg			//输出的下降沿指示信号

);
//reg 定义
reg in_d1; //寄存1拍的信号
reg in_d2; //寄存2拍的信号

assign in_neg = ~in_d1 && in_d2;//组合逻辑得到下降沿
//上升沿： assign in_pos = in && ~in_d1;
//双边沿： assign in_pos = in ^ in_d1;

//寄存模块，将输入信号打1拍、打2拍
always@(posedge sys_clk or negedge sys_rst_n)begin
if(!sys_rst_n)begin
in_d1 <= 1’b0; //复位清零
in_d2 <= 1’b0;
end
else begin
in_d1 <= in; //寄存1拍
in_d2 <= in_d1; //寄存2拍
end
end

endmodule
3.3、RTL电路

上图为生成的RTL电路：该电路由2级D触发器+与逻辑门构成。

3.4、Testbench
Testbench文件同2.4章。

3.5、仿真结果
使用ModelSim执行仿真，仿真出来的波形如所示：

从波形图可以看到：

10ns后停止复位
在第1条参考线处输入信号 in 产生了第1个下降沿信号
在第4条参考线处输入信号 in 产生了第2个下降沿信号
在第2条参考线和第3条参考线之间的产生了一个周期的下降沿指示信号 in_neg
在第5条参考线和第6条参考线之间的产生了一个周期的下降沿指示信号 in_neg
两级寄存器构成的边沿检测电路可以有效的防止亚稳态的产生，产生的使能信号会落后一个时钟周期。
4、参考

【从零开始走进FPGA】你想干嘛——边沿检测技术

FPGA的边沿检测

FPGA基础入门篇(四) 边沿检测电路