Fault Classed

Untestable（UT）

不可测试故障（UT）是不存在可以检测或可能检测到这些故障的pattern。不可测试故障不会造成功能失败，因此工具在计算测试覆盖率时会将它们排除。因为工具需要在ATPG之前对故障有一些了解，在执行ATPG之前会将它们分类为unused、tied、或者blocked faults。当执行ATPG时，会立刻放这些faults在合适的类别，但是冗余故障检测需要进一步的分析。

下面列出了不可测试的故障（UT）类型：

1.Unused（UU）

UU包括电路中未连接到任何电路observation point的故障和PO悬空的故障。

2.Tied（TI）

TI包括在gates上的故障，故障点被tied的值与stuck故障值相同，以下是导致tied电路的原因：

• Tied信号。
• 具有互补输入的AND和OR门。
• 具有相同输入的异或门。
• 在测试期间，通过CT0或者CT1引脚约束，PI保持在恒定的逻辑值，因此line保持不变。
  

3.Blocked（BL）

BL包括tied逻辑阻塞了到可观察点的所有路径，其导致tied电路的原因与TI相同。