硬件-晶振选型-负载(起振)电容计算+PCB布局

一:常见设计(均来自真实产品的设计)

  • 自己动手画晶振和MCU连接,你能在不复制粘贴的情况下正确画出吗?下面给出答案,自己找共性。
  • 硬件-晶振选型-负载(起振)电容,计算晶振匹配电容?
  • 本节目标是找到如何设计Cg和Cd的值,带着这个目的阅读本篇文章
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1.1 51单片机晶振设计参考

  • MCU:STC89C52RC
  • 负载电容取值:两个22pf在这里插入图片描述
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1.2 STM32晶振设计参考

  • MCU:stm32f103c8t6
  • 负载电容取值:两个22pf
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1.3 ESP32晶振设计参考

  • MCU:ESP32-C3
  • 负载电容取值:两个15pf
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二:常见疑问

2.1 晶振江湖地位

  • 消费电子领域常用无源晶振,因为便宜
  • 晶振排位:无源晶振<单端有源晶振<差分晶振<高精度温补晶振<恒温晶振
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2.2 有源晶振和无源晶振

晶振是我们数字电路中的心脏,有源晶振和无源晶振都可以作为我们芯片的时钟源

  • 单片机的外部晶振是否稳定,受温度,湿度等环境因素影响比内部振荡器小,精度比较高。而且当设计需要降低功耗时,比如说便携式仪表等,就需要外设晶振,因为内部振荡器不能根据需要而停止,而外部晶振可以适时停止,从而进入休眠状态,降低功耗。
  • 而单片机的内部晶振一般不够准确,误差比较大。但是单片机的内部晶振和外部晶振的作用都是一样的,给系统提供时钟。如果对频率要求不高的话(比如不涉及串口通信和精确定时等的话),用内部晶振就足够了,并且这样成本还低。
    如果对频率要求不高,一般是优先选用内部振荡起振电容的选择:
    ①根据数据手册选择
    ②在许可范围内起振电容值越小越好,C值偏大有利于稳定,但会增加起振时间。一般为15p—30p之间,电容在地和输入输出之间。
  • 无源晶振:不需要为其供电,它的震荡依赖于芯片内部的震荡电路,它的自己是不能产生时钟信号的
  • 常用两个封装,一个两脚封装,一个4脚封装(两个GND,一个晶振输入一个输出,同时输入输出必须接电容再接地,注意顺序,这样子电容才能参与晶振的起振)在这里插入图片描述在这里插入图片描述
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  • 有源晶振:更准确应该叫振荡器,需要为其供一个电源,它的振荡不依赖于芯片内部的振荡电路,给他电源就能产生时钟信号
  • 封装有4脚、6脚,其中6脚封装里的两脚(图中的4和5脚)是差分信号,常见差分信号有LVDS、LVPECL这种差分信号在这里插入图片描述在这里插入图片描述在这里插入图片描述
  • 有源晶振=无源晶振+振荡电路
    在这里插入图片描述现在大部分芯片是都可以支持有源晶振和无源晶振,它的时钟输入是既可以支持有源晶振又可以支持无源晶振。
  • 注意:对于有源晶振,我们常常在他的电源上串联一个磁珠,放置这个晶振的一些高频噪声串到这个电源上

三:晶振匹配电容计算

3.1 无源晶振电路影响因子

  • 无源晶振频率受外接负载电容,杂散电容还有芯片的io寄生电容的影响,而有源晶振频率比较稳定,受外界参数影响小。
  • 价格方面:有源晶振比较贵,无源晶振便宜,所以消费电子行业多用无源晶振。

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3.2 皮尔斯振荡电路

  • 看数据手册,我们要设计的就只有Cg和Cd
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3.3 实际例子理论计算(重点)

按照该晶振手册数据

  • 1.电容标称值负载电容Cl是10pf((规格书上写的,器件的性质决定)),杂散电容C0是3pf,根据公式计算得Cg=Cd=14pf,结合实际产品分析,晶振电容选取15pf合理
  • 2.电容标称值负载电容Cl是20pf,杂散电容C0是3pf,根据公式计算得Cg=Cd=34pf
  • 下图的计算公式,因为计算是无源晶振,没有集成电路内部电容,所以忽略Cic,只计算PCB上的杂散电容3-5pf
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四:晶振波形&频谱分析仪

4.1 有源晶振和无源晶振实测波形

  • 一个是正弦波一个是方波
    在这里插入图片描述

4.2 频谱分析仪

一般搞射频的人用频谱分析仪,EMC

举例子:晶振的标称负载电容Cl=16pf(规格书上写的,器件的性质决定),负载电容Cg=Cd=27pf(理论是26pf,图片实际电容取27pf)

  • 1.负载电容Cg=Cd=27pf,此时测出来的频率是24.999520MHZ,频偏Fr大概是-20个ppm
  • 2.负载电容Cg=Cd=16pf,此时测出来的频率是25.000650MHZ,频偏Fr大概是26ppm
  • 我们现在上16pf和27pf的电容,感觉都是频偏不是很大
  • 注意:
    1.老师傅说无源晶振常用(负载)起振电容取值是10-30pf,就是要根据实际情况分析才能得到合适的值。
    2.当Cg和Cd变大,晶体振荡的频率变小。
    3.示波器测量频率精度很差的。无源晶振波形是正弦波
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  • 测量方法:频谱用一个线圈做一个传感器就可以测
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  • 总结:
  • 1.对频率要求高上有温度补偿的有源晶振,无源晶振和谐振电容都有误差,一个个调做样品可以量产是不行的。大部分场合频率差不多就能可靠使用了,无需调校到精确频率。
  • 2.这只是一般情况,STM有一篇专门对这个进行讲解的文档,像皮尔斯振荡器,不仅要考虑晶振本身的电容,也要根据芯片手册确定芯片时钟输入端的电容,甚至在较高频率的震荡中还要考虑寄生电容和分布电感,也要分割地平面,官方给出的电路也标注了在不同情况下的各种参数,文件《“Oscillator design guide for ST microcontrollers”》

4.3 单片机上电后没有运转,首先要检查什么?

  • 1.首先应该确认电源电压是否正常。用电压表测量接地引脚跟电源引脚之间的电压,看是否是电源电压,例如常用的5V。
  • 2.接下来就是检查复位引脚电压是否正常。分别测量按下复位按钮和放开复位按钮的电压值,看是否正确。
  • 3.然后再检查晶振是否起振了,一般用示波器来看晶振引脚的波形,注意应该使用示波器探头的“X10”档。另一个办法是测量复位状态下的IO口电平,按住复位键不放,然后测量IO口(没接外部上拉的P0口除外)的电压,看是否是高电平,如果不是高电平,则多半是因为晶振没有起振。
  • 4.另外还要注意的地方是,如果使用片内ROM的话(大部分情况下如此,现在已经很少有用外部扩ROM的了),一定要将EA引脚拉高,否则会出现程序乱跑的情况。有时用仿真器可以,而烧入片子不行,往往是因为EA引脚没拉高的缘故(当然,晶振没起振也是原因之一)。
  • 经过上面几点的检查,一般即可排除故障了。如果系统不稳定的话,有时是因为电源滤波不好导致的。在单片机的电源引脚跟地引脚之间接上一个0.1uF的电容会有所改善。如果电源没有滤波电容的话,则需要再接一个更大滤波电容,例如220uF的。遇到系统不稳定时,就可以并上电容试试(越靠近芯片越好)。

五:PCB晶振布局

5.1 总结:

  • 1.晶振靠近芯片;
  • 2.晶振电路包地;
  • 3.起振电容靠近晶振;
  • 4.晶振下面第二层挖空;
  • 挖空处理是一为了保证负载电容的恒定,晶振的两个焊盘与其下方的平面层之间会形成寄生电容,该电容会影响晶振的频偏,导致系统工作不正常,为了减少寄生电容,需要在晶振下方的平面层做挖空处理,让焊盘到平面的距离增大;二是为了抑制热传导的频偏影响,晶振的频率会受到温度的影响,如果周围有发热的器件会通过铜皮传导到晶振,从而造成频偏,为了隔绝热传导,需要用挖空处理。
  • 多层板层与层之间的厚度很小,相当于是挨的很紧的极板,电容会大一些。
    所以可以考虑把晶振下面的几层铜挖掉减小电容,而最后一层铜一般不挖,避免高频透过去。
    双层板,就完全没有必要挖了。
  • 包铜是只在晶振外围用一圈gnd的线包围晶振,隔一段距离打一个过孔,而铺铜是指在晶振下方铺大链接的铜层,这是两个不同的概念,两者都对晶振稳定运行利好
  • 5.晶振不能靠近板边;
  • 6.晶振下面所有层不能布线(高速板太密集起码相邻层不能布线)
    在这里插入图片描述在这里插入图片描述在这里插入图片描述
    在这里插入图片描述以上,完

道友:把握自己的节奏,不断前行,时间会见证你的努力与成长。只要你用心耕耘,美好终将如约而至。

<think>好的,用户的问题是在嘉立创EDA软件中进行PCB布线时,哪些器件需要禁止铺铜。我需要先理解铺铜的作用可能带来的问题,再结合嘉立创EDA的特点用户提供的引用资料来回答。 首先,铺铜通常是用来提高电路板的抗干扰能力、散热电流承载能力。但某些情况下,铺铜可能会对特定器件造成负面影响,比如高频干扰、散热不良或短路风险。根据引用[1],敷铜通常填充空白区,可以连接GND或VCC,但接VCC可能有短路风险。引用[4][5]提到电源线地线的处理,但并未直接说明哪些器件禁止铺铜。 需要结合常见PCB设计原则。例如,高频器件、高压器件、精密模拟器件、发热器件等可能需要避免铺铜。此外,用户提供的引用中没有明确列表,但引用[3]提到嘉立创EDA的快捷键设计功能,可能涉及如何设置禁止铺铜区域。 接下来要确认嘉立创EDA的具体操作,比如如何设置禁止铺铜区域,是否有默认规则。根据引用[1],用户可能需要手动调整敷铜区域,避开特定器件。因此,回答应包含常见需要禁止铺铜的器件类型,并指导如何在软件中操作。 还需考虑用户可能的实际需求,比如新手可能不知道哪些器件需要特别注意,需要具体例子,如晶振、大功率电阻等。同时要引用提供的资料中的相关内容,例如引用[1]提到敷铜可能带来的短路问题,引用[4]提到路径宽度对电阻的影响,这可能与铺铜后的电流路径有关。 最后,生成相关问题时要围绕PCB设计中的铺铜注意事项、优化方法常见错误等,帮助用户进一步学习。</think>在嘉立创EDA中进行PCB设计时,以下器件通常需要设置禁止铺铜区域(Keepout)或与铺铜保持安全间距: ### 一、需要禁止铺铜的器件类型 1. **高频器件**(如晶振、RF模块) 高频信号对寄生电容敏感,铺铜可能引入噪声干扰。建议在晶振下方设置禁止铺铜区[^1],例如: ```python # 示例:晶振周围设置1mm禁铜区 set_keepout(component="X1", distance=1mm) ``` 2. **高压/大功率器件** 如继电器、电源模块等,铺铜可能造成爬电距离不足。根据IPC标准,220V交流器件建议保持2.5mm以上间距[^4]。 3. **精密模拟器件** 运算放大器、ADC/DAC芯片的敏感引脚周围需避免铺铜,防止地电流干扰。可采用"分割地平面+局部禁铜"策略[^1]。 4. **发热器件** 大功率电阻、MOS管等发热元件下方铺铜会阻碍散热,建议: $$ \text{禁铜面积} \geq \text{器件封装面积} \times 1.5 $$ 5. **调试测试点** 保留测试焊盘周围1-2mm无铜区,避免探针短路[^5]。 ### 二、嘉立创EDA操作指南 1. **设置禁铜区**: - 选择"敷铜"工具后右键菜单创建禁止区域 - 使用快捷键`K`快速绘制多边形禁铜区[^3] 2. **特殊器件处理**: ```markdown 1. 选中器件 > 右键"属性" > 勾选"排除敷铜区域" 2. 在"设计规则"中设置器件与铜箔间距 ``` 3. **混合信号电路建议**: - 数字/模拟地分割处设置禁铜隔离带 - 射频走线两侧添加屏蔽地铜时需保持对称[^2] ### 三、典型错误案例 - **错误**:在0402封装贴片电阻下方铺铜 **后果**:回流焊时铜箔散热过快导致虚焊 **修正**:设置直径0.5mm圆形禁铜区[^5]
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