传输线脉冲(TLP)测试见证了ESD领域的大发展。在这种ESD测试下,传输线电缆 通过电压源充电。TLP系统将脉冲注入被测试器件(DUT)。脉冲特征时间与电缆长度有关。
TLP脉冲宽度是传输线长度及其传播速度的函数。传输线的传播速度可以用相对于光速 的形式表示,是等效介电常数和导磁率的函数。
TLP，Transmission Line Plus，其实就是测试芯片引脚的IV特性，不过不是测试引脚DC电压下的电流，而是给芯片引脚一个脉冲，脉宽约为100ns，上升时间约为10ns（与HBM能量一致，之后TLP又有了5ns脉宽的规格，用来模拟CDM的工作特性）。用下面一张图就可以很好地理解TLP的原理，左边波形就是测量普通的IV曲线的图，右边的波形图是用TLP测试出来的波形图。
各个ESD模型的经验对比值：
TLP的IT2*1500ohm=HBM值
MM*（9~10）=HBM
IEC + （1.3K~2K）=HBM
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