芯片测试（1）——OS测试

前言

OpenShort开短路测试，简称OS，指的是芯片引脚是否存在开/短路现象，不存在开/短路且阻值符合要求的为良品芯片。

测试内容

引脚结构的阻值。

测试本质

二极管压降

测试条件

芯片不供电，加流测压

测试目标

晶圆目前几乎都是硅材质了，硅二极管的理论压降是0.7V。测试机有高精密测试单元（PMU），你可以把它想象成一个理想源，我们通常会驱动（drive）个100-250uA，测试其引脚电压大概在500-800mV，因此我们可以给个范围（range）在0.4-1.2V之间的算是pass。

测试方法

将芯片简化为如图所示模型，VCC为电源管脚，GND为接地管脚，PIN为待测管脚，OS测试分为对电源和对地两种，工程中一般只测对地的，表现为引脚短路测到的电压趋近于0（电阻值趋近于0），开路则相反测到的电压很大（电阻值无穷大）。

1.对电源连接性
检测上二极管是否导通，使用测试机向PIN 灌入一个小电流（source电流），检测压降U是否为0.7V，如图所示，红色箭头为电流方向。

2.对地连接性
检测下二极管是否导通，使用测试机从PIN 拉出一个小电流（sink电流100~500uA）,检测压降是否0.7V，如图所示，红色箭头为电流方向。

通常检测时，VDD与GND与其他相邻PIN，都给0V，这样分别source与sink电流时测到PIN处电压为0.7V和-0.7V表示二极管导通

参考链接

1.https://blog.csdn.net/ssy1582373593/article/details/123788202?ops_request_misc=%257B%2522request%255Fid%2522%253A%2522168912551016800226532980%2522%252C%2522scm%2522%253A%252220140713.130102334…%2522%257D&request_id=168912551016800226532980&biz_id=0&utm_medium=distribute.pc_search_result.none-task-blog-2_alltop_click~default-1-123788202-null-null.142^v88control_2,239^v2insert_chatgpt&utm_term=OS%E6%B5%8B%E8%AF%95&spm=1018.2226.3001.4187

2.http://t.csdn.cn/E0T3E