ATPG

Automatic Test Pattern Generation(ATPG)

ATPG有效性是衡量测试错误覆盖了的重要指标。测试是向一个处于已知状态的对象施加确定的输入激励，并测量其确定的输出响应与理想的期待响应进行比较，进而判断被测对象是否存在故障。测试向量：输入激励+理想的期待响应。

DFT是逻辑相关的工作，需要在gate（logic）level解决。

 

制造缺陷-->故障模型

需要通过对芯片内部制造缺陷引起的电路故障建立逻辑上的模型，从而通过测量电路在输入输出管教上行为，来判断芯片内部是否存在制造缺陷。

固定型故障模型（stuck-at fault model）

时延故障模型（delay fault model）

基于电流的故障模型（current-based fault model）

......

 

几种常见的DFT技术：

扫描测试（scan）：将电路中的存储单元（寄存器register）转化成为可控制和可观察的存储单元，将这些单元连接成一个或多个移位寄存器，即扫描链。

内建自测试（bist）：在电路内部增加测试电路结构，在测试时这个测试电路结构能够自己产生机理和比较响应。

静态电流测试（IDDQ）：若存在电流性故障，会使电路在静态时产生一个高于正常值的电流。

 

DFT-->ATPG

在DFT工具完成其硬件结构设计部分工作后，需要将设计转交给ATPG工具自动生成测试向量。需要转交的包括两个文件：

1、网表文件：包括DFT电路

2、测试协议文件：告诉ATPG工具所采用的测试协议：包括设计的输入、输出、时钟、测试波形等星系。

然后有ATPG工具自动生成测试向量文件（STIL文件）。