[案例]PCIE jitter测试问题分析以及解决方案

        项目背景: 项目为一个云端运算的产品，所有的高速和低速信号都要进行信号完整性测试，其中包括高速串行信号PCI-Express Gen1( 简称PCIe Gen1)。PCIe Gen1信号分为CEM和base两种情况，CEM的测试可以使用 PCI-sig协会的fixture直接进行测试；base的测试直接使用探头探测最终端的测试点，这样就会带来一个问题，如何才能测试到芯片的的最终端？因为，信号的互连通道不仅仅包含了PCB走线，还包含了芯片内部的布线，一般我们认为测量到芯片内部的Die才算最终端。

       

        该项目的PCIE 1.0是属于PCIe base的，互连CPU与以太网PHY，如下图1所示：

图1 原理框图

        所以测试的时候，需要将probe探测到最终端，但是对于目前示波器测试而言，都只能测试到芯片的引脚上，没有办法探测到最终端的Die上，如下图2所示。

图2 测试点只能探测到芯片的管脚