Mbist 测试中BAP介绍

摘录于微信公众号 简矽芯学堂。其精华总结，甚为欣赏，为了便于自己理解记忆和方便查阅，故摘录下来，并无其他目的。

BAP(BIST Access Port)，即内建自测试访问接口，主要用于In System Test，它要求芯片在已经部署到产品中，甚至芯片正在运行中，可对芯片的memory进行在线、实时地进行测试和诊断。

通常情况下，配置MBIST控制器，需要通过TAP接口启动TAP控制器，通过IjtagNetwork来对相关TDR进行配置，随后TDR使能相关信号对MBIST控制器进行配置，并启动MBIST逻辑进行测试。

而BAP内建自测试访问接口提供了不同于IjtagNetwork的串行访问方式，可不经过IjtagNetwork，用BAP接口直接对MBIST控制器进行配置，由于不再使用IjtagNetwork的串行配置方式，没有了shift cycle，大大缩短了测试时间，代价是需要在BAP接口和BAP控制器之间引入额外的连接。

BAP Architecture

BAP 存储器访问架构由两部分组成：IjtagNetwork访问接口以及BAP的直接访问接口。BAP的连接是由用户配置的，直接连接到Function 逻辑。