摘录于微信公众号 简矽芯学堂。其精华总结,甚为欣赏,为了便于自己理解记忆和方便查阅,故摘录下来,并无其他目的。
BAP(BIST Access Port),即内建自测试访问接口,主要用于In System Test,它要求芯片在已经部署到产品中,甚至芯片正在运行中,可对芯片的memory进行在线、实时地进行测试和诊断。
通常情况下,配置MBIST控制器,需要通过TAP接口启动TAP控制器,通过IjtagNetwork来对相关TDR进行配置,随后TDR使能相关信号对MBIST控制器进行配置,并启动MBIST逻辑进行测试。
而BAP内建自测试访问接口提供了不同于IjtagNetwork的串行访问方式,可不经过IjtagNetwork,用BAP接口直接对MBIST控制器进行配置,由于不再使用IjtagNetwork的串行配置方式,没有了shift cycle,大大缩短了测试时间,代价是需要在BAP接口和BAP控制器之间引入额外的连接。
BAP Architecture
BAP 存储器访问架构由两部分组成:IjtagNetwork访问接口以及BAP的直接访问接口。BAP的连接是由用户配置的,直接连接到Function 逻辑。