硬件学习笔记（器件篇）—— 电感（六）

已于 2022-10-28 20:37:50 修改
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分类专栏： 硬件基础 文章标签： 学习 嵌入式硬件 硬件工程 fpga开发 单片机
于 2022-10-04 23:22:23 首次发布
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本文介绍了电感在使用中常见的损耗问题，包括DCR（直流电阻）、ACR（交流电阻）、磁滞损耗和涡流损耗，并探讨了这些损耗如何影响电感性能。电感损耗主要由线圈和磁芯两部分组成，其中DCR是关键因素。同时，文章提到计算电感损耗通常通过Q值进行简化估算。

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电感的损耗

我们在使用电感的时候经常会遇到电感发烫的问题，这就涉及到电感的损耗。

  • 电感的损耗有哪些？
  • 电感的损耗如何计算？

电感的损耗分类

电感的损耗分为两大部分，一部分为线圈损耗，一部分为磁芯损耗。
在这里插入图片描述

DCR

DCR就是指电感线圈的直流电阻，这个参数一般厂家会在规格书中给出，DCR是电感损耗的重要组成部分，也是我们重点要关注的。
在这里插入图片描述
一般来说，电感值越大，线圈导线越长，DCR越大，损耗也越大，一般在电路设计中，选择DCR小的。

ACR

ACR是指电感线圈的交流电阻。ACR的大小并不是恒定的，是与电流的频率相关的，ACR随频率变化是因为集肤效应。
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大家好，这里是大话硬件。在设计DC-DC电路时，经常会考虑它的效率，90%还是在80%的效率对于一个消费电子设备的续航来说，存在非常大的区别。有时候在看某芯片的规格书，器件标称的效率能达到92%。但是自己按照同样的输入、输出电压、负载电流来设计电路，然后测试效率，为什么测试的结果只有85%，87%，就是达不到90%以上呢？实际上DC-DC的效率测试，不仅仅和芯片有关，与我们的测试方法，电感和电容的选择，芯片的工作模式也有关系。
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