Scan Chain的原理与实现(实践) - Compression Flow

最新推荐文章于 2025-03-12 22:36:57 发布
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分类专栏： DFT
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本篇博客介绍compression的实践Flow

官方脚本

你只需要使用在原来的基础上增加下面三条命令，就能在insert_dft阶段，插入logic。
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量产导入 | SCAN和ATPG
叫好与叫座虽然不是对立面，但想在同一个作品中达到双重效果很难。
06-11 787
嵌入式多重检测（Embedded Multi-Detect，EMD）在故障分级期间向测试立方中添加关注位（care bits），以尝试检测检测次数较少的故障。拥有了学习卡，不仅可以快速掌握芯片设计的基础通识，还能判断自己是不是适合做芯片设计的工作，单门课程花几天的时间就可以学完，极大提升学习效率！课程以IC设计公司岗位需求为导向，设立6大方向：设计，验证，后端，DFT，模拟设计，版图！故障激活是在故障模型的位置建立一个与故障模型产生的值相反的信号值。网表阶段是左边的，插入DFT后需要替换成右边的。
DFT 问答 II
diedai7174的博客
09-07 1820
1. Boundary Scan A：Boundary scan顾名思义，是附加在芯片I/O周边的扫描测试链，它通过专门的测试端口(TAP)访问。在测试模式下，边界扫描链会接管功能逻辑，对I/O进行灵活访问。边界扫描链的结构，测试端口，以及其控制器(TAP Controller)，被IEEE定为标准协议(IEEE 1149),也称做JTAG.边界扫描链最早应用于印刷电路...
EDA（一）DFT之SOC测试压缩的新进展
yuzhouzhandiao的博客
04-10 1045
一、测试压缩的基本概念SoC测试压缩技术是一种用于减少SoC测试过程中所需存储和传输的测试数据量的方法。随着集成电路设计的不断发展，SoC的复杂性不断提高，导致测试数据量急剧增加，这不仅增加了测试成本，还延长了测试时间。为了解决这些问题，测试压缩技术应运而生，它通过特定的算法对测试数据进行编码，以减少数据的大小，同时保证测试的完整性和有效性。测试压缩技术的基本概念包括：数据编码：测试数据压缩涉及到将原始的测试向量（测试输入和预期输出）通过某种编码算法转换为更紧凑的形式。
DFT scan chain
weixin_34178244的博客
03-29 3778
现代集成电路的制造工艺越来越先进，但是在生产过程中的制造缺陷也越来越难以控制，甚至一颗小小的 PM2.5 就可能导致芯片报废，为了能有效的检测出生产中出现的废片，需要用到扫描链测试（scan chain），由此产生了可测性设计即 DFT flow。 注意scan test 只能检测出制造瑕疵，无法检测芯片功能瑕疵。 DFT 第一步是做 scan chain，首先将电路中的普通 DFF 换...
【SOC 芯片设计 DFT 学习专栏 -- Scan chain 和 SDFFs及 EDT】
最新发布
CodingCos的博客
03-12 1170
SDFFs是DFT中用于构建扫描链的基本单元，支持功能模式和测试模式的切换，显著提高芯片的可测试性。EDT是一种高效的测试压缩技术，通过减少测试数据量和测试时间，适应大规模芯片的测试需求。两者的结合为SoC设计提供了高效、可靠的测试解决方案，是现代芯片设计中不可或缺的技术123。
Scan Chain的原理与实现(实践)-top down flow
ciscomonkey的博客
12-09 3588
文章目录实验步骤 理论部分已经奠定了基础，我想记录实践部分，希望能在实践中，不断深化对ug的理解，对整个DFT的理解。 本次实验的目标是实现TOP Down Flow、熟悉DFT的基本脚本 实验目录环境： 此时，我们DFT的工作人员已经得到了ddc文件，所以在scripts文件夹里面我们不用关心1compile。 实验步骤 启动dc dc_shell & 执行脚本2read_design source 2read_design 脚本如下： set hdlin_enable_rtldrc_i
SCAN CHAIN
diedai7174的博客
08-20 393
https://mp.weixin.qq.com/s?__biz=MzUzODczODg2NQ==&mid=2247485270&idx=1&sn=df1034f318f5954a99d33978176516da&chksm=fad26e88cda5e79eec77a163724dfae43f2ba1eb3f4eae371856e5fcea0070c590...
数字IC笔记-scan chain 压缩和解压缩
sinat_41774721的博客
09-01 1万+
scan chain compress/decompress 1.Why scan chain compress ? 芯片设计规模愈来愈大，受到管脚数目的限制，scan chain变得越来越长 在DFT上的tese time就长，而test time是影响整个芯片成本的一个关键因素 2.在DFT上的tese time就长，而test time是影响整个芯片成本的一个关键因素 3.建立时间分析 D触发器输入和输出会有内部延迟，用TckTckTck表示，两个触发器之间有一段组合逻辑产生另外一个延迟，
DFT 入门篇-scan chain
flomingo1的专栏
10-12 2248
DFT -- design for test 三要素：辅助性设计， physical defects 结构性测试向量 是一种辅助性设计，利用这种辅助性设计 对根据 physical defects 建立的 fault model 进行求解产生的结构性测试向量， 这些结构性测试向量用于检测制造出来芯片的能否正常工作。 scan chain 包含两个步骤： scan replacement scan stitching scan chain （synthsi...
可测试性设计原理：Wrapping Core （Ⅰ）
weixin_44150473的博客
09-24 6070
Wrapping core的出现类似于为每一个core做一个boundary，方便我们对每一个core进行独立测试。本文主要讲一下wrapping core的基本原理，下篇文章会讲一下DFTC的两种core wrapping flow。参考（翻译）自《Synopsys® TestMAX™ DFT User Guide》，FYI。
《Gpu Gems》《Gpu Pro》《Gpu Zen》系列读书笔记
热门推荐
puppet_master的专栏
02-13 2万+
本篇blog简单记录了一下最近一两年一直在读的一系列书目。《Gpu Gems》1-3三部，《Gpu Pro》1-7七部，《Gpu Zen》一部。针对每一项渲染技术，进行全系列书的总结，从这个角度来看，可以看到一项技术，近十五六年来的进化过程。
DFT EDT 压缩解压缩模块详解
11-06
DFT EDT手册 压缩解压缩原理及流程的详细讲解 EDT的产生流程，EDT在design中的插入流程
2021-02-08/09 大数据课程笔记 day19day20 某大型网站日志分析离线系统
qq_44745905的博客
02-10 5019
@R星校长 某大型网站日志分析离线系统 项目需求分析 概述 该部分的主要目标就是描述本次项目最终七个分析模块的界面展示。 工作流   在我们的 demo 展示中，我们使用 jquery+echarts 的方式调用程序后台提供的 rest api 接口，获取 json 数据，然后通过 jquery+css 的方式进行数据展示。工作流程如下： 分析 总述 在本次项目中我们分别从七个大的角度来进行分析，分别为： 用户基本信息分析模块 浏览器信息分析模块 地域信息分析模块 用户浏览深度分析模块 外链数据分析模块 .
DFT设计之scan chain
m0_49540263的博客
03-31 1万+
scan chain的基本原理是将设计中所有的触发器连接成一条链，用统一的scan clk驱动，这样可以使用预先设计好的scan pattern用逐bit移入的方法送入芯片中，然后开启capture使能，这样每个触发器的Q端输出会传入他们所驱动的组合电路，scan chain中的下一级出发器D端会捕获这个组合电路的输出，然后capture失效，捕获到的每一级组合电路输出再被移出scan chain，从而在scan chain输出端得到一组结果向量，这组结果向量与工具预先计算好的预期（当然是与输入scan c
1. DFT 入门篇-scan chain
IC后端小白的博客
08-17 1485
DFT   --  design  for  test  三要素：辅助性设计， physical defects   结构性测试向量    是一种辅助性设计，利用这种辅助性设计 对根据 physical  defects  建立的 fault  model 进行求解产生的结构性测试向量， 这些结构性测...
DFT系列文章之 《DFT Scan chain》
那么菜的博客
02-24 1404
scan DFF 是在原DFF 的输入端增加了一个 MUX，于是多了几个 pin ：scan_in，scan_enable，scan_out。简单来讲，scan chain 工作时分为三个步骤： load ····> capture ····> unload。3. 在 SE 有效拉高时，将 input pattern 串行打入scan register。unload 是将scan chain 中的数据串行输出，得到 output pattern。2. 将 scan register 首尾依次串接起来。
数字IC笔记-scan chain
sinat_41774721的博客
06-21 8679
scan chain 1.定义： 满足可测试性设计(DFT),将设计中所有的触发器连接到一条或者若干条链上，称为scan chain。将一个复杂的时序电路转换为简单的组合电路进行测试。这一步是在逻辑综合(DC)中实现. 当SE=1时，电路进入scan状态，当SI=1时，电路工作在normal状态。 2.为什么进行scan chain reordering： 在DC综合阶段，工具没有寄存器的物理位置信息，按照字母顺序做scan chain的插入，连接方式并不是最优的。 在ICC中place是基于time和
【ARM Coresight OpenOCD 系列 3 -- OpenOCD 常用命令与扫描链scan_chain】
CodingCos的博客
11-09 1657
在接口协议选择和复位相关的配置完成后，TAP的配置就需要进行了，有时很难知道当前使用的是什么TAP, 或者怎么去识别它们。： 是用于读取 AP 寄存器的值。name 是 DAP 的名字，apreg 是你想要读取的 AP 寄存器的名字。扫描链中的设备被分配一个唯一的TAP（Test Access Port）ID，它用于在链上识别和访问设备。总的来说，扫描链是JTAG调试的基础特性，OpenOCD提供了一系列命令和功能，用于配置和操作扫描链。：显示MEM-AP编号的ROM表，默认为当前选定目标的当前选定AP。
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