1.作为测试结果的对比结果是哪里来的
比如一个scan chain上有组合逻辑,寄存器capture的值和launch经过组合逻辑并不一定一样,我如何知道这段组合逻辑的功能呢?整芯片中组合逻辑太多了 我又是如何知道这些电路在test pattern激励下的正确输出呢?
2.嵌入式存储器的测试难度相当大,主要问题为:不同于独立的存储器芯片,嵌入式存储器直接相接的 I/O 管脚很少或没有,导致直接可控性和可观性低。
没有直接的IO对 那么是不是在我们in-house的IP内部也是同样的问题,直接可控性和可观性低。这种情况下是怎么测试的呢?
采用logicBist+scan?实际上在IO上的接口我们通过通路选择最终还是能选择到IP?
那另外一个问题 一个大的IP 比如GDC 在测试时不应该是整IP测试,会分成不同的部分,这样测试的时候是通过MUX选择当前测试的是哪一部分吗?这些部分是否可并行测试?测试结果都通过IO输出吗?
3.测试引脚是有限的 难道是一级一级的mux到待测单元?
4.在at-speed测试下测试电路的timing怎么收敛
是中端同事是sta分析之后收时序吗?
5.scan chain有多长,怎么划分,时序怎么收敛,包括里面的异步