使用超临界二氧化碳的晶圆清洗技术

随着半导体器件的高密度化,晶圆清洗技术愈发重要。传统湿式清洗存在局限,如环境污染、模式崩溃等问题。文章探讨了使用超临界二氧化碳的清洗技术,作为对湿式清洗的补充,它可以更有效地清洗半导体晶片,特别是对于精细模式的清洗,有望解决现有技术挑战并适用于65nm以下的工艺节点。
摘要由CSDN通过智能技术生成

引言 

半导体技术及产业反复急剧发展。小资的集聚技术越来越复杂。因此,可以快速收集大量资料。但是,这也需要在高度计算、大量多媒体的数据和精密测量、制导等领域有更高性能的计算机,因此不断要求器件的高密度化技术。器件密度的提高意味着线宽变窄。也就是说,生产芯片的工艺变得更加精细和精密。在晶片上制造半导体牛字的过程中,经过逐步的过程,表面的污染物将呈几何级数增长,受这些污染物的影响,半导体器件的数量率将急剧下降。为了应对这种情况,虽然最理想的方法是逐步采用清洁工艺,完美地清除晶片表面的所有污染物,但这几乎是不可能的。因此高密度电路的性能。信赖性和生产良品率是由制作时使用的晶片或制作后元件表面存在的物理化学中不必要的杂质决定的。即使超精细化技术发达,如果清洁工艺不完善,发挥功能的元件也无法得到。也就是说。清洁技术不是半导体器件的清洁,而是半导体器件的制造技术。 

半导体晶片清洗技术

半导体制造工艺可以大致分为硅片制造工艺、氧化和沉积工艺、光刻工艺、蚀刻工艺、离子注入工艺、等离子烧结工艺和光子晶体剥离工艺,工艺和工艺之间需要大量的清洗工艺(FIGUREST)。蚀刻和离子注入过程需要30次以上,具体取决于半导体的高密度聚集,

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