分光光度计的系统组成

万叶叶

已于 2024-12-04 16:19:45 修改

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分类专栏：光学设计/理论光学检测/加工文章标签：学习几何学数码相机图像处理算法

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介绍分光光度计的系统结构和组成，分为李特洛系统、艾伯特—法斯梯系统、切尔尼—特纳系统、交叉式切尔尼—特纳系统...

分光光度计/光谱仪内容总结：分光光度计/光谱仪内容总结-CSDN博客

一、总结

分光光度计主要由光源、分光系统、吸收池以及光电检测器组成，其工作如图（1）所示：光源发出的复合光经过分光系统产生特定波长的单色光，单色光入射至吸收池，部分光被吸收，剩余光强由光电检测器测得，最后根据朗伯比尔定律计算出吸收池样品浓度。

根据仪器性能要求不同，分光光度计的光源分为连续光源与非连续光源。连续光源是指在很大的波长范围内发射强度平稳的具有连续光谱的光源，如紫外光源、可见光源、红外光源等。其中，紫外光源主要有氢灯和氘灯，光谱波长范围为 160—375nm。可见光源最常用的是卤钨灯和白炽灯，卤钨灯光谱分布在320—2500nm 之间，白炽灯光谱波长范围为 360—780nm 。常用的红外光源有能斯特灯、硅碳棒等。非连续光源主要指线光源如钠灯，其光谱主要是 589nm 和589.6nm 处的一对谱线。

在光源设计时，首先需要根据检测要求，选择合适的光谱范围。由于大部分光源为热光源，热光源的光强波动大，会对溶液浓度检测结果造成干扰，为提高检测准确性，需要选择合适的稳压电路增加光强稳定性。

分光系统的主要作用是将复合光色散为单色光，核心部件为光栅元件。在分光系统中，根据光路结构不同，分光系统主要发展为四大类：李特洛系统、艾伯特—法斯梯系统、切尔尼—特纳系统、交叉式切尔尼—特纳系统。

二、李特洛光学系统

如图（2）所示，李特洛光学系统由入射狭缝 S1、反射镜 M1、准直镜 M2、光栅 G 以及出射狭缝 S2 组成。光线经过入射狭缝 S1到达准直镜 M2处，M2将光线准直为平行光线后反射至光栅 G，光栅 G 将光线色散并反射至 M2，最后由 M2、M1 将单光色聚焦于出射狭缝 S2。

李特洛光学系统结构简单紧凑，但是入射狭缝与出射狭缝的距离过近，入射狭缝处的杂散光会直接到达出射狭缝，同时反射镜 M1处也会将大量的杂散光入射至出射狭缝。而且由于准直镜 M2的尺寸过大，会存在二次衍射和多次衍射问题。

三、艾伯特-法斯梯光学系统

第二种结构是艾伯特—法斯梯光学系统，如图（3）所示，光线经过入射狭缝 S1 到达准直镜 M1，经过 M1的反射至光栅 G，光栅将光线色散并反射至 M1处，色散后的单色光经过 M1聚焦于出射狭缝 S2。

与李特洛光学系统相比，艾伯特—法斯梯光学系统减小了光学元件的使用数量，系统结构变得更加紧凑。同时该光学系统增加了入射狭缝与出射狭缝的距离，减小了出射狭缝处的杂散光。但是也因为准直镜 M1尺寸问题，会存在二次衍射和多次衍射。

四、切尔尼—特纳光学系统

第三种结构是切尔尼—特纳光学系统，如图（4）所示，该光学系统的光路原理与艾伯特—法斯梯光学系统相似，拥有艾伯特—法斯梯光学系统的特点，为了减小多次衍射带来的负面影响，切尔尼—特纳系统将准直镜分为两个元件，这样一来减小了多次衍射所带来的不良影响。

五、交叉式切尔尼—特纳光学系统

第四种结构是交叉式切尔尼—特纳光学系统，如图（5）所示，交叉式切尔尼— 特纳光学系统是在切尔尼—特纳光学系统的基础上改变而来，通过对准直镜 M2的位置进行调整，使入射光路与出射光路进行交叉，这样可以避免各元件发生干涉，提高了空间使用效率，有利于减小仪器体积，方便携带，但是该系统的光路计算比较复杂，对结构设计有较高的要求。