无人驾驶常用专有名词

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无人驾驶

1.AEB

(AEB)是一种汽车主动安全技术,主要由3大模块构成,包括控制模块(ECU)测距模块,和制动模块。其中测距模块的核心包括微波雷达、人脸识别技术和视频系统等,它可以提供前方道路安全、准确、实时的图像和路况信息。

AEB系统采用雷达测出与前车或者障碍物的距离,然后利用数据分析模块将测出的距离与警报距离、安全距离进行比较,小于警报距离时就进行警报提示,而小于安全距离时即使在驾驶员没有来得及踩制动踏板的情况下,AEB系统也会启动,使汽车自动制动,从而为安全出行保驾护航。

欧洲Euro-NCAP机构近日正式发布消息会在2014年的评分规则里添加自动紧急刹车系统Autonomous Emergency Braking,简称AEB。

这项AEB紧急刹车技术将和ESP电子稳定系统一样成为5星级评价里的加分项目。 现在沃尔沃、奔驰、大众、福特、斯巴鲁等品牌都已经装备了这种自动紧急刹车系统。利用雷达、超声波、摄像头等设备侦测前方道路,侦测到有碰撞风险后车载电脑会自动紧急刹车。这项技术还没有一个业界统一标准,各家品牌的命名也不同。比如沃尔沃名为城市安全系统、奔驰名为Pre-safe。现阶段这些自动刹车系统的工作时速范围普遍在30km/h以下

在现行的欧洲Euro-NCAP测试规则中AEB系统有没有列入最终评分是作为前沿科技奖项单独予以褒奖。Euro-NCAP非常看好这项技术在减少事故发生率上的帮助,在他们的调研中显示装备AEB之后能减少27%的事故。可想而知2014年纳入正式评分规则会促进更多的厂商研发相关技术。

已拥有类似技术的沃尔沃、奔驰等厂商也会致力于提高自动刹车的工作范围和准确性。在海外马自达CX-5、福克斯、思域、大众微型车up!都普通品牌车型都在高配或选装部分里提供这项AEB自动刹车技术。可见AEB在将来很快会成为ABS、ESP等我们熟知的汽车安全名词。 对于国内车市,Euro-NCAP这项举措有助于提升进口车和一些豪华品牌车型的安全性能。我们很期待那些普通品牌也能在国内车型上引进这项技术。至于自主品牌车型这项技术很难通过第三方购得,如博世的ESP电子稳定系统。毫无疑问会在安全性能上面临差距扩大的状况需要投入大量经费来追赶海外先进科技。

2.AES(自动紧急转向)

目前正在发展中的下一代主动安全技术为自动紧急转向AES,它的工作原理仍然是利用传感器感知车辆前方的危险,但却通过控制车辆的横向运动(电动助力转向EPS),转向规避碰撞风险。

2.1 AES解释

2.1 AES技术分析

1) 功能设置

同自动紧急制动AEB可分为EBA(紧急制动辅助)和AEB(自动紧急制动)两个子功能一样,自动紧急转向同样可分为ESS(紧急转向辅助)和AES(自动紧急转向)。而ESSAES的区别就在于是否需要驾驶员介入转向作为功能触发条件:ESS需要驾驶员介入触发,AES不需要驾驶员介入触发。

2) 与AEB的集成关系

AEB与AES的目的都是避免车辆与前方目标发生碰撞,可视为同一个主动安全系统下的两项功能,这两项功能之间的集成关系可参考下图雷克萨斯Pre-Collision系统的相关定义。

 

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### 回答1: STDf文件是被广泛使用于半导体测试行业的一种数据格式。是Semiconductor Test Data Format(半导体测试数据格式)的缩写。STDf格式文件能够存储一段时间的测试数据,包括每个芯片的测试结果、测试程序、测试条件、测试设备、测试时间等信息。 专有名词解释如下: 1. Test program(测试程序):是在芯片测试过程中使用的软件程序,用于进行测试操作的自动化 2. Test Head(测试头):一种具有测试卡和传感器的设备,用于接触芯片并读取测试结果。 3. Tester(测试仪):主要用于进行半导体器件或电路测试和分析的设备 4. Device Under Test(芯片):被测量器件或电路 5. Pin(引脚):在芯片上用于连接电路的金属引脚 6. Site(测试站):测试头的一个位置,它可以用于测试一个芯片或一组芯片。 7. Scan Chain(扫描链):在芯片中引导测试信号流动的序列。 8. Timing Information(时序信息):在每次测试期间记录的时间信息,用于对测试结果进行时间分析。 9. Wafer(晶圆):是芯片生产过程中用于切割成芯片的大片硅晶体。 10. Test Condition(测试条件):定义了在测试过程中用于设置测试参数和测试设备的规范和条件。 ### 回答2: STD(Stand Test Data Format)文件是半导体测试数据的标准格式,用于记录芯片的测试数据信息。它是一种二进制格式,通常以*.std文件扩展名表示,可被各种半导体测试设备和测试工具支持。 STD文件中的专有名词主要包括以下几个:Test Head,Site,Pin,Vector,Part,Wafer。其中,Test Head是测试头,位于测试工站上,用于发出测试信号和接收反馈信号,控制芯片的测试过程;Site是指芯片测试站点的序号,一个芯片会有多个测试站点;Pin是指芯片的引脚,每个站点上有一个或多个引脚;Vector是测试向量,即测试程序中芯片测试所需的信号序列,包含多个测试点的信号信息;Part是测试批次的名称,用于标识同一个批次的芯片;Wafer是指晶圆,即多个芯片在同一片晶圆上制造而成,测试时需要将测试向量应用到各芯片上。 除此之外,STD文件还包含如时间戳、测试程序版本、测试结果等信息,方便对芯片的测试数据进行分析和管理。STD文件的统一格式不仅可以保证测试结果的一致性和可靠性,还方便了不同测试设备和测试工具的数据转换和共享。 ### 回答3: STDF (Standard Test Data Format)文件是集成电路测试数据的标准格式。它是由Semiconductor Test Data Exchange Format Working Group(STDF WG)开发的一种二进制文件格式。这一组织的成员包括各大半导体公司和测试设备制造商。 STDF文件分为头部记录和数据记录两部分。头部记录包含了关于测试数据的基本信息,如生产、测试日期,整个文件的版本等。数据记录是针对每个被测试元件生成的测试数据,包括被测试元件的型号、序列号和被测试功能等。 STDF文件中包含了一些专有名词,需要解释一下。其中,WAFER(晶圆)是指在半导体制造过程中,被加工的圆片状硅晶体,用于制造芯片。LOT(批次)是指在制造晶圆时,将同种型号的晶圆放在一起进行生产和测试,称为批次。首件(FIRST)指的是批量生产之前,取出一片晶圆,用于测试制造工艺是否正确。 另外,STDF文件中还有元件标志(PARTID)和测试标志(TEST_NUM、TEST_FLG)等字段,用于定位被测试元件和识别产生的测试数据。 总而言之,STDF文件是记录集成电路测试数据的标准格式,通过标准化数据格式,方便各大公司之间的数据交流,促进了半导体产业的发展。

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