Mentor-dft 学习笔记 day4-老六test cube和fault class

最新推荐文章于 2024-05-30 18:40:46 发布

华子闭嘴

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分类专栏： eda-dft 文章标签：学习开发语言

本文链接：https://blog.csdn.net/qq_42327670/article/details/127117535

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本文是关于Mentor DFT的学习笔记，重点介绍了Multiple Detect技术，如何通过设置激励来使故障更敏感。同时探讨了Fault Classes，包括Untestable（UT）和Redundant（RE）两类故障的特性，解释了它们无法被测试的原因。

摘要由CSDN通过智能技术生成

#重剑无锋

一.Multiple Detect

多重检测基本思路：每个故障随机定位多次，通过改变定位方式和改变pattern set 里的其他值，增加检测桥接的可能性。这种方法从一个标准的tuck-at or transition pattern set开始，对每个故障进行分级以进行多次检测。然后执行额外的ATPG，并针对低于多重检测目标阈值的故障创建模式。

（1） Bridge Coverage Estimate

Bridge coverage estimate (BCE)是一种报告多重检测能力的指标。

如果发现目标故障点和另一个网络见存在桥接错误，则使用一种pattern（时序）检测出故障的有百分之50的变化，而使用随机的第二种不同的pattern检测检测相同的错误则可能性为1-0.5^2.

(2) Embedded Multiple Detect

Embedded multiple detect (EMD)嵌入多重检测的目的是在不增加pattern数量的基础上improve a pattern set。理论上讲，emd生成的pattern和标准模式生成的pattern有相同的quality，付出的代价为时间变长百分之30-百分之50，emd越多，可测性就越高，但是相对应所花费的时间就越多

所以emd 也被视为 no-cost additional value 使用在atpg里

具体过程

#########test cube

在执行atpg里，emd尝试检测未检测到的故障，但是atpg最大化了每个pattern检测到的先前未检测到的故障的数量，但只有小部分扫描单元具有检测所需的特定值。这些需要加载到该模式扫描单元中的指定位称为测试立方体（test cube）。未填充测试立方体值的其余扫描单元被随机填充，以便意外检测未定位的故障。

emd的过程就是在生成test cube，发现是否存在检测少的故障，额外扫描将值放到testcube里来提高性能

emd的性能取决于压缩率，压缩率越大 testcube 空余的越少，emd提升的效果越不明显

二. Fault Detection