花了好长时间才解决下述问题,现记录一下。
三种提取电子浓度的方法
1.利用extract语句[1]提取到的电子浓度和
2.用来源器件结构cutline之后tonyplot的integrate[2]
3.利用extract语句直接提取曲线[3],再进行integrate操作
来源器件结构:ccdex01_2.str
[1]extract语句:
#extract electron concentration in full well (1.0e4 is to scale into I/cm^3)
extract init inf="ccdex01_2.str"#导入器件结构源文件
extract name="n_in_full_well" 1.0e+4*area from curve(depth,n.conc material="Silicon"
\mat.occno=1 x.val=1.0)
#提取电子浓度随深度变化曲线和depth轴形成的面积再×1e4,即为full_well中的电子浓度
提取结果:
EXTRACT> init inf="ccdex01_2.str"
EXTRACT> extract name="n_in_full_well" 1.0e+4*area from curve(depth,n.conc material="Silicon" mat.occno=1 x.val=1.0)
Extracting existing "Electron Conc" from structure, no re-calculations required
n_in_full_well=5.29832e+017 X.val=1
[2]tonyplot的integrate操作
步骤1:tonyplot显示器件结构源文件ccdex01_2.str
如上图,可直接将该文件拖入tonyplot
①得到器件结构中电子浓度分布
右键->display->选中contours(第四个)->点击左下角Define
在Quantity中选择Electron Conc,点击OK
②在器件结构中Cutline(x=1)
在Tools里选择Cutline
在Cutline设置框里选择第六个,输入XY坐标,然后点击Create
③求积分(曲线和横轴之间的面积)
点击右侧图形,选中它,然后点击Tools,选中Integrate
点击Blue line的上下按钮,选中全部面积
最终结果是:5.29776e13*1e4=5.29776e17
提取结果: 5.29832e+017
和提取结果接近。
好奇怪,我之前用这种方法算出来和extract得到的结果偏差很大,这次居然对了?
[3]先用extract语句提取目标曲线,再用Integrate操作求解
#extract electron concentration in full well (1.0e4 is to scale into I/cm^3)
extract init inf="ccdex01_2.str"
extract name="电子浓度" curve(depth,impurity="Electron Conc" material="Silicon" \
mat.occno=1 x.val=1) outfile="curve2.dat"
将curve2.dat拖入tonyplot,如下图:
和[2]②③步骤相同,可得结果:
5.29833e13*1e4=5.29833e17与[1]结果5.29832e17几乎相等,也证明了tonyplot显示的时候会可能会损失数据真实性。