DFT ATPG test coverage 分析与提高--1

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文章标签： 模块测试 集成测试
于 2024-03-18 17:59:09 首次发布
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本文深入探讨了基于故障模型的DFT ATPG测试覆盖率分析，重点关注UD和AU类型的故障，如UD.EAB、UD.AAB、AU.PC和AU.SEQ等，分析了这些故障导致覆盖率丢失的原因，并提供了计算覆盖率的公式和日志信息。通过特定命令如set_relevant_coverage -exclude AU.TC，可以进一步排除某些故障类型，以提高Test Coverage。

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基于故障模型分析coverage 丢失原因

 如下所示是故障模型分类，在ATPG 分析时，AU/UO/UC等类型的fault, 因为这几种类型，影响的Test coverage.

22eebc45f8294e7f824e700a9cf4f3fa.png

通过如下的Test Coverage 计算公式也能看出在分析debug 过程中需要关心的fault 类型.

通过下面的log 信息也能发现，Test Coverage 有两列数据，主要以第二列数字为准，因为它会把一些fault 类型进一步排除，例如AU.UDN . AU.EDT 等 . 如果想进一步排除，可以用命令：set_relevant_coverage  -exclude AU.TC 

 

80c84c85010a4f3190fb3067b3a4fa94.png

UD fault:

a.       在ATPG 之前，工具会首先将testable fault 置为UD (UC+UO)类型，工具在分析后会进一步对其分类
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