Tessent Atpg系列 第七章 Running ATPG Patterns

最新推荐文章于 2023-02-01 16:01:49 发布
最新推荐文章于 2023-02-01 16:01:49 发布
阅读量888 收藏 2
点赞数 1
分类专栏： DFT 文章标签： DFT tessent
版权声明：本文为博主原创文章，遵循 CC 4.0 BY-SA 版权协议，转载请附上原文出处链接和本声明。
本文链接：https://blog.csdn.net/ciscomonkey/article/details/125240855
版权

文章目录

本篇文章是tessent的第七章， Running ATPG pattern，本文是对该ug的理解，并非对其完全的翻译。
使用Tessent的 ATPG context 有两种Flow，一种是由Tessent scan 串完scan后，一种不是由Tessent scan串完，比如用DC串完后，然后使用Tessent 完成ATPG。

ciscomonkey
关注
  • 1
    点赞
  • 踩
  • 2
    收藏
    觉得还不错? 一键收藏
  • 0
    评论
专栏目录
DFT专栏之1.TessentMbist——Flow and main steps
weixin_42123710的博客
02-01 3071
DFT TessentMbist
2.tessent命令学习笔记
weixin_44954910的博客
10-27 3899
2.set_dft_specification_requirements：指定DRC检查的要求，包括DFT规格；19.set_module_matching_options：定义将ICL模块与ICL提取中的设计模块匹配时要使用的可接受前缀和后缀或规律的表达式；7.create_pattern_specification：创建默认的模式规范，是一个配置文件，process_patterns_specification命令将根据模式规范来创建测试，可以编辑或配置默认的模式规范，以生成所需的模式规范。
Mentor-dft 学习笔记 day17--Running ATPG Patterns
qq_42327670的博客
11-02 1206
当添加此核心的实例进行映射时，在核心级别使用的iCall将自动映射到顶层，并添加到顶层test_setup或test_end程序换句话说，如果您使用IJTAG在核心级别设置核心，该工具会自动将这些序列映射到顶级test_setup和test_end过程，而无需执行任何操作。在这个备选流程中，如果扫描逻辑存在于顶层，那么顶层将有两个不同的view（模式）：包括顶层扫描逻辑和操作该逻辑的过程，以及核心映射后创建的合并顶层视图，除了顶层扫描逻辑与过程之外，还包括映射到顶层的所有核心级扫描逻辑。
Tessent Atpg系列 第八章 Test Pattern Generation - ATPG Tool Pattern Types（sequential pattern概念）
ciscomonkey的博客
06-10 3412
默认情况下工具是会先生成basic scan pattern，basic scan pattern是将一组values 给所有的scan cells( load in)，以及 primary PI，另外再所有的primary output 以及scan cell上进行观察（measure po）, 工具会使用默认的scan clock 来抓取数据到observable scan cells(capture_clock_on,capture_clock_off) . 每一只pattern都是独立的。 ....
ATPG
weixin_44954910的博客
11-03 1674
更具体地说，工具给控制点分配一组值，使故障点与无故障状态具有相反的状态，所以，可以检测到故障值和无故障值之间的差异。例如，如果工具证明了故障冗余，可能会标记该故障为不可测，否则，将划分为潜在可检测故障，计算测试覆盖率时归类为不可测试故障。该程序从故障列表选择一个故障，创建检测故障的pattern，故障防战pattern，检查确保生成的pattern能检测到故障。ATPG的目的是创建一组patterns， 来达到给定的测试覆盖率，测试覆盖率是pattern集实际检测到的故障占可测试性故障的百分比。
Tessent scan&ATPG (5) Additional test pattern types
旺旺家族的传说
12-20 5058
Additional test pattern types附加的pattern的类型 ATPG test pattern 的类型 使用tessent shell 生成的pattern 大致分以下几种类型: 1. basic Scan 对于 full-scan 的电路 生成的是basic scan的pattern 2. clock Sequential 用于那些时序深度有限 存在no-scan latches /no-scan cell 的电路 在时序上: shift之后(或者说load之后)会有若干个cyc
Tessent Scan and ATPG User's Manual
03-13
Tessent Scan and ATPG User's Manual
ATPG user guide[tessent 2015]
09-11
ATPG user guide[tessent 2015]; Tessent scan and ATPG user Manual, version: 2015.2
tessent scan and ATPG User's Mannual (atpg_gd March 2019 )
04-11
2019 March 最新版,scan atpg文档。描述了scan atpg的操作flow，工具原理
Tessent Scan and ATPG.pdf 最新版本
04-24
SIEMENS EDA Tessent Scan and ATPG User’s Manual Software Version 2022.4 Document Revision 27
Hybrid TK/LBIST Flow User's Manual
01-03
Hybrid TK/LBIST Flow User's Manual Software Version 2017.4 December 2017
Tessent® Scan and ATPG User's Manual.pdf
12-27
Tessent® Scan and ATPG User's Manual.pdf 是 Mentor Graphics Corporation 发布的一份关于 Tessent.Scan 和 ATPG 软件的用户手册，版本号为 2019.1，发布于 2019 年 3 月。本手册旨在为用户提供 Tessent.Scan 和 ...
Tessent scan & ATPG(2) ATPG basic flow
旺旺家族的传说
11-23 8538
ATPG 的基本步骤 DFT lib 一般vendor会提供 也可使用 tessent 的libcomp工具 将simulation lib转化为 DFT lib 什么是 simulation lib ? 是仿真专用的库吗? 那仿真和综合 布局布线为什么要分开来? black boxes 存在一些block 不需要做scan chain的 就可以定义为black box; #example add_black_boxed -module core #改变black box 的输出行为 add_black
可测试性设计流程：Tessent MBIST
weixin_44150473的博客
09-22 4185
本文主要讲述可测试性设计流程中MemoryBIST部分，用于帮助大家快速了解 Tessent MBIST flow，了解Tessent shell commands的基本用法，参考（翻译）自《Tessent MemoryBIST User’s Manual》，FYI。
Tessent Atpg系列 第七章 Running ATPG Patterns -- 如何书写proc文件
ciscomonkey的博客
06-06 4140
本篇文章是记录Tessent scan ATPG系列 本文并非是对userguide的完全翻译，而是自己对userguide的理解，此外，有部分比较深入的内容可能需要后续实验验证。本系列并不对tessent scan做过多描述。 请勿随意转载： CSDN 博主： ciscomonkey一种是在使用tessent scan之后使用ATPG 另一种是使用第三方工具，如snps的DFTC之后使用tessent的ATPG。 这里我们仅仅介绍without tessent scan之后tessent ATPG:对于t
[Mbist Flow]一、Design Loading
weixin_42123710的博客
02-01 1226
DFT专栏之1.TessentMbist——Flow——Design Loading
Java实战项目——基于ssh实现的博客系统（毕业设计）(前后端源码+论文+数据库+说明文档)25.zip
最新发布
06-15
ava实现的毕业设计&&课程设计（包含运行文档+数据库+前后端代码），可运行高分资源 Java实现的毕业设计&&课程设计（包含运行文档+数据库+前后端代码），Java实现的毕业设计&&课程设计（包含运行文档+数据库+前后端代码），Java实现的毕业设计&&课程设计（包含运行文档+数据库+前后端代码），Java实现的毕业设计&&课程设计（包含运行文档+数据库+前后端代码），Java实现的毕业设计&&课程设计（包含运行文档+数据库+前后端代码），Java实现的毕业设计&&课程设计（包含运行文档+数据库+前后端代码），Java实现的毕业设计&&课程设计（包含运行文档+数据库+前后端代码），Java实现的毕业设计&&课程设计（包含运行文档+数据库+前后端代码），Java实现的毕业设计&&课程设计（包含运行文档+数据库+前后端代码），Java实现的毕业设计&&课程设计（包含运行文档+数据库+前后端代码），Java实现的毕业设计&&课程设计（包含运行文档+数据库+前后端代码），Java实现的毕业设计&&课程设计（包含运行文档+数据库+前后端代码），Java实现的毕业设计&&课程设计（包含运行文档+数据库+前后端代码），Java实现的毕业设计&&课程设计（包含运行文档+数据库+前后端代码），Java实现的毕业设计&&课程设计（包含运行文档+数据库+前后端代码），Java实现的毕业设计&&课程设计（包含运行文档+数据库+前后端代码），Java实现的毕业设计&&课程设计（包含运行文档+数据库+前后端代码），Java实现的毕业设计&&课程设计（包含运行文档+数据库+前后端代码），Java实现的毕业设计&&课程设计（包含运行文档+数据库+前后端代码），Java实现的毕业设计&&课程设计（包含运行文档+数据库+前后端代码），Java实现的毕业设计&&课程设计（包含运行文档+数据库+前后端代码），Java实现的毕业设计&&课程设计（包含运行文档+数据库+前后端代码），Java实现的毕业设计&&课程设计（包含运行文档+数据库+前后端代码），Java实现的毕业设计&&课程设计（包含运行文档+数据库+前后端代码），Java实现的毕业设计&&课程设计（包含运行文档+数据库+前后端代码），Java实现的毕业设计&&课程设计（包含运行文档+数据库+前后端代码），Java实现的毕业设计&&课程设计（包含运行文档+数据库+前后端代码），Java实现的毕业设计&&课程设计（包含运行文档+数据库+前后端代码），Java实现的毕业设计&&课程设计（包含运行文档+数据库+前后端代码），Java实现的毕业设计&&课程设计（包含运行文档+数据库+前后端代码），Java实现的毕业设计&&课程设计（包含运行文档+数据库+前后端代码），Java实现的毕业设计&&课程设计（包含运行文档+数据库+前后端代码），Java实现的毕业设计&&课程设计（包含运行文档+数据库+前后端代码），Java实现的毕业设计&&课程设计（包含运行文档+数据库+前后端代码），Java实现的毕业设计&&课程设计（包含运行文档+数据库+前后端代码），Java实现的毕业设计&&课程设计（包含运行文档+数据库+前后端代码），Java实现的毕业设计&&课程设计（包含运行文档+数据库+前后端代码），Java实现的毕业设计&&课程设计（包含运行文档+数据库+前后端代码），Java实现的毕业设计&&课程设计（包含运行文档+数据库+前后端代码），Java实现的毕业设计&&课程设计（包含运行文档+数据库+前后端代码），Java实现的毕业设计&&课程设计（包含运行文档+数据库+前后端代码），Java实现的毕业设计&&课程设计（包含运行文档+数据库+前后端代码），Java实现的毕业设计&&课程设计（包含运行文档+数据库+前后端代码），Java实现的毕业设计&&课程设计（包含运行文档+数据库+前后端代码），Java实现的毕业设计&&课程设计（包含运行文档+数据库+前后端代码），Java实现的毕业设计&&课程设计（包含运行文档+数据库+前后端代码），Java实现的毕业设计&&课程设计（包含运行文档+数据库+前后端代码），Java实现的毕业设计&&课程设计（包含运行文档+数据库+前后端代码），Java实现的毕业设计&&课程设计（包含运行文档+数据库+前后端代码），Java实现的毕业设计&&课程设计（包含运行文档+数据库+前后端代码），Java实现的毕业设计&&课程设计（包含运行文档+数据库+前后端代码），Java实现的毕业设计&&课程设计（包含运行文档+数据库+前后端代码），Java实现的毕业设计&&课程设计（包含运行文档+数据库+前后端代码），Java实现的毕业设计&&课程设计（包含运行文档+数据库+前后端代码），Java实现
tessent atpg at speed
06-24
### 回答1： Tessent ATPG是一种专门用于测试集成电路的自动测试程序生成工具。它提供了高效可靠的测试方法，可以确保芯片系统符合规格要求。同时，Tessent ATPG可以在高速模式下进行测试，以更快地测量芯片的性能。高速模式测试可以在尽可能短的时间内生成最佳的测试程序，以确保所测量的数据准确无误。而且，在高速模式下测试可以极大地提高测试效率，缩短测试周期，降低测试成本。因此，Tessent ATPG在测试集成电路时具有非常重要的作用。它不仅可以确保芯片的正常运行和优质性能，还可以帮助制造商在最短的时间内完成测试并将芯片推向市场。总之，Tessent ATPG是一种非常实用且效果卓著的测试工具，在现代集成电路设计中扮演着至关重要的角色，并且被广泛应用于各种计算机和电子设备中。 ### 回答2： Tessent ATPG at Speed 是一款加速测试工具，它能够在更短的时间内测试出芯片或电路的错误，提高测试效率和测试覆盖率。Tessent ATPG at Speed 可以同时利用多个测试模式和解决方案，以最小的代价测试出芯片中的故障。它还能够帮助设计人员更好地了解设计的缺陷和改进建议。 Tessent ATPG at Speed 还使用了一种名为 Path Delay Test (PDT) 的技术，在最短的时间内发现芯片中的问题。这一技术通过在每个时钟边沿测量系统的延迟，从而检测出芯片中的故障。此外，Tessent ATPG at Speed 还可以将重点测试放在最有可能出现故障的地方，从而更加高效地测试出芯片的错误。 总之，Tessent ATPG at Speed 是一款非常实用的测试工具，它可以帮助设计人员更加快速和准确地发现芯片内部可能存在的问题，以确保芯片的高质量和可靠性。 ### 回答3： 在半导体芯片设计中，测试点个数的增加是为了更好地检测到设计中的缺陷。然而，测试点增多可能会降低芯片的性能。因此，测试点的策略是非常关键的。 Tessent是一种高效的自动测试点生成（ATPG）工具，它能够在保证良好测试覆盖率的同时降低测试点对芯片性能的影响。它采用了一系列优化技术，如基于硬件的测试点选择、动态测试点压缩和最小测试点表等，以减少测试点数量和测试时间，同时最大化测试覆盖度。 Tessent ATPG at Speed可以帮助设计人员设计出更快速的芯片，在保证产品质量的同时优化性能。它可以在芯片设计的早期阶段确定最小的测试点数，并在整个设计过程中进行优化，包括逻辑综合和物理实施。 总之，Tessent ATPG at Speed是一项非常有价值的技术，能够提高半导体芯片的测试效率和性能，为芯片的开发和生产提供了强有力的支持。

“相关推荐”对你有帮助么？

  • 非常没帮助
  • 没帮助
  • 一般
  • 有帮助
  • 非常有帮助
提交
评论
添加红包

请填写红包祝福语或标题

个

红包个数最小为10个

元

红包金额最低5元

当前余额3.43元 前往充值 >
需支付：10.00元
成就一亿技术人!
领取后你会自动成为博主和红包主的粉丝 规则
hope_wisdom
发出的红包
实付元
使用余额支付
点击重新获取
扫码支付
钱包余额 0

抵扣说明：

1.余额是钱包充值的虚拟货币，按照1:1的比例进行支付金额的抵扣。
2.余额无法直接购买下载，可以购买VIP、付费专栏及课程。

余额充值