为什么芯片有多个不同的供电电压?

一、为什么芯片有多个不同的供电电压?

  1. 优化性能与功耗:芯片的核心部分(Core)和输入输出部分(IO)可能采用不同的电压。核心电压通常较低,以减少功耗和发热,提高能效;而IO电压较高,以确保与外部设备的兼容性和信号完整性。通常,系统的内核电压(如FPGA的VCCINT)需要先于I/O电压(如VCCIO)上电。这是因为内核电压为芯片的逻辑部分供电,必须在I/O电压之前稳定,以确保数据的正确处理和传输。

  2. 模拟和数字电压分离:有些系统可能需要将模拟和数字电路的电源分开,以防止相互干扰。例如,模拟电路可能对电源噪声更敏感,因此可能需要一个独立且更稳定的电源。

  3. 电压域的独立上电:在多电压域的系统中,可能需要独立控制每个电压域的上电时序。例如,有些电压域可能需要比其他域更早或更晚上电,以确保系统的正确启动。

  4. 电压转换器的选择:不同的电压转换器(如开关稳压器和线性稳压器)可能有不同的上电时序要求。这些要求通常由转换器的设计和负载特性决定。

  5. 时序控制器的使用:在复杂的系统中,可能需要使用时序控制器来精确控制每个电压域的上电和下电时序。时序控制器可以监控不同电压域,并在必要时调整上电顺序,以确保系统的稳定运行

  6. 电源监控:在有多个电源电压的系统中,监视不同电压的能力可能很重要。许多时序控制器还内置了电源监控器或电压监视功能,以确保每个电压在正确的时间达到其目标值 [^500^]。

  7. 电压爬升控制:对于每个转换器,各电压上电的延迟也会不同。这导致不同电压域中的电压爬升不受控制,有可能引起功能问题并损坏系统。因此,通常需要可靠的上电顺序以确保每个电压在正确的时间达到其目标值 。

  8. 减少功耗:功耗与电压的平方成正比,降低电压可以显著减少功耗,这对于移动设备尤为重要,有助于延长电池寿命。

二、为什么芯片大都采用低电压大电流的供电方案?

        通俗的讲,芯片可以看作由几十亿到上百亿个小开关(场效应晶体管FET)组成的。开关切换的速度f决定了计算机的性能。为了高性能,必须提高开关速度f。而V则因为省电的原因越小越好

        这里要引入门延迟(Gate Delay)的概念。简单来说,组成CPU的FET充放电需要一定时间,这个时间就是门延迟。只有在充放电完成后采样才能保证信号的完整性。而这个充放电时间和电压负相关,即电压高,则充放电时间就短。

        现实情况比这个更复杂。实际上,上面公式里的P只是动态能耗,主要关注占比90%的Dynamic Power,造成Dynamic Power的原因是寄生负载电容的充放电。CPU的整体功耗还包括短路功耗和漏电功耗:

        短路功耗是在FET翻转时,有个极短时间会有电子直接跑掉。它和电压、频率正相关。

        漏电功耗是电子穿透MOSFET的泄漏情况,它和制程与温度有关。

        

        电源只是表示最大能提供的能力,负载才决定用了多少。

为什么芯片大都采用低电压大电流的供电方案?

  1. 降低功耗:随着晶体管数量的增加,为了减少能耗,需要降低供电电压。功耗与电压的平方成正比,因此降低电压可以有效减少功耗。除了动态功耗外,芯片的功耗还包括短路功耗和漏电功耗。降低电压可以减少短路功耗,而漏电功耗与制程和温度有关。

  2. 门延迟:晶体管的充放电时间(门延迟)与电压有关,电压越高,充放电时间越短。但为了节能,需要在保证信号完整性的前提下,尽可能降低电压。

  3. 半导体材料的特性:半导体硅管的正向饱和压降约为0.7V,因此不需要太高的电压即可工作。

  4. 工艺和电压的关系:随着制造工艺的进步,晶体管的特征尺寸越来越小,这允许芯片在更低的电压下工作,同时减少热效应和提高集成度。

        晶体管密度太大导致pn节间距很小,耐压低,不能高压。电压是由制造工艺决定的,越是制成线宽小的工艺,能承受的电压越低,同时寄生电容也更小,使得同频率下单管功耗更低。如果电压太高,意味着制程必须要高很多,如果想5V供电,需要1微米的制程才可以,太小的话,容易击穿,导致损坏。

        上百安的电流不是一个Vcc脚提供的,而是很多电源pin分摊的,所以几百个引脚平摊下来上百安的电流也不算太夸张。

参考资料

为什么单片机的工作电压多是3.3V?而不是3V?,以及TTL电路5V表压标称的由来_为什么是3.3v-CSDN博客

为什么芯片大都采用低电压大电流的供电方案?_芯片在低压状态下电路工作状态-CSDN博客

<think>嗯,用户问的是比较器芯片在不供电的时候会不会有漏电流。这个问题看起来是关于电子元件在断电状态下的特性。首先,我得回忆一下比较器芯片的基本结构和工作原理。比较器通常由运算放大器构成,但设计用于开环或高增益状态,用来比较两个电压的大小。 接下来,用户提到的漏电流,可能是指当芯片没有外部供电时,电流是否会通过输入或输出引脚泄漏。这时候需要考虑芯片内部的结构,比如是否有保护二极管、ESD结构,或者内部电路在断电时是否形成导电通路。 我记得很多集成电路在断电时,如果输入或输出引脚有电压施加,可能会通过内部的ESD保护二极管产生漏电流。这些二极管通常连接到电源和地,当电源断开时,如果有电压施加在输入引脚上,可能会通过这些二极管形成通路,导致电流流向已断电的电源轨,进而产生漏电流。 另外,输出端的情况可能类似,如果输出引脚被外部电路拉高或拉低,而芯片本身没有供电,内部的MOS管或者其他输出级结构可能处于不确定状态,但通常会有一定的漏电流,尤其是如果输出级有上拉或下拉结构的话。 还需要考虑芯片的具体设计和制造工艺。例如,CMOS器件在断电时通常有较低的漏电流,但如果有外部电压施加,情况可能不同。此外,某些比较器可能具有内部偏置电路,即使在断电时,这些电路可能也会导致微小的漏电流。 不过,用户的问题是不供电时的漏电流是否存在,而不仅限于外部施加电压的情况。这时候可能需要区分两种情况:一种是芯片完全断电,所有引脚都没有电压;另一种是芯片断电,但某些引脚被外部电路施加了电压。前者情况下,漏电流可能非常小,主要由半导体材料的本征特性导致,但通常可以忽略不计。后者情况下,如前所述,通过ESD二极管或其他保护结构的漏电流可能更显著。 另外,查阅数据手册是确认特定芯片漏电流的最佳方法。不同厂商、不同型号的比较器可能有不同的表现。例如,某些数据手册可能会明确给出断电时的输入漏电流参数,或者在绝对最大额定值中说明引脚电压不应超过供电电压一定范围,以避免反向电流。 总结起来,比较器芯片在断电时是否会有漏电流,主要取决于是否有外部电压施加到引脚上,以及内部保护电路的结构。如果有外部电压存在,漏电流的可能性较大;如果完全断电且所有引脚悬空,漏电流可能极小。但为了准确回答,最好参考具体型号的数据手册,或者进行实际测量。</think>比较器芯片在**不供电时是否会产生漏电流**,需从原理和实际设计角度逐步分析: --- ### 1. **基本原理分析** 比较器芯片的输入/输出端通常包含**ESD保护电路**(如钳位二极管)和**内部寄生结构**。当芯片供电时: - **若外部电路对引脚施加电压**:可能通过ESD二极管或寄生PN结形成电流路径,导致**漏电流**。 - **若所有引脚悬空(无外部电压)**:漏电流极小,通常可忽略。 --- ### 2. **漏电流来源** #### (1) **ESD保护二极管通路** - 典型结构:输入/输出引脚通过二极管连接到电源(VCC)和地(GND)。 - **未供电时**:若引脚电压超过二极管导通阈值(约0.7V),电流可能通过二极管流向已断电的电源轨,形成漏电流(如图1)。 ```text Example: 引脚电压=3.3V → 未供电的VCC=0V → 电流通过VCC引脚二极管流向外部电路。 ``` #### (2) **寄生效应** - CMOS工艺的**寄生三极管或电容**可能在断电时产生微小漏电流(nA级),但通常可忽略。 --- ### 3. **典型场景与实测数据** - **场景1**:未供电且输入引脚悬空 → 漏电流≈1nA以下(CMOS工艺)。 - **场景2**:未供电但输入引脚接外部电压(如5V) → 漏电流可能达μA级(取决于ESD二极管特性)。 --- ### 4. **解决方法** - **设计建议**: - 若系统要求严格,可在未供电的引脚串联电阻(限流)。 - 使用具有**断电隔离功能**的比较器(部分高端型号支持)。 - **选型参考**:查阅数据手册的**“Power-Off Leakage Current”**参数。 --- ### 5. **总结** | 条件 | 漏电流水平 | 主要来源 | |--------------------|------------------|------------------------| | 完全断电且引脚悬空 | <1nA(可忽略) | 寄生效应 | | 断电但引脚有电压 | μA级 | ESD二极管导通 | **关键结论**: 比较器未供电时是否产生漏电流,**取决于外部电路是否对引脚施加电压**。若需避免漏电流,需确保断电时引脚电压不触发ESD二极管导通。
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