CMOS逻辑门电路主要技术参数

传输延迟时间

由于电极之间以及电极与衬底之间存在寄生电容,并且输出端通常也存在负载电容。当输入信号跳变时,由于电容的充放电,输出电压的变化必然滞后与输入电压的变化。

门电路传输延迟波形图如下:

0eee33b57c864b438571b9a1cdd9ca68.jpeg

通常CMOS逻辑门电路输出端加输出保护缓冲电路(即:反相器),其具有互补对称性,通常eq?t_%7BpHL%7D%3Dt_%7BpLH%7D。有时也常采用平均传输延迟时间2

减小传输延迟

通常CMOS的寄生电容很小,传输延迟主要来自负载电容的充放电。

常用方法:①减小负载电容;②减小MOS管的导通电阻(提高Vdd)。


噪声容限

噪声容限反映了门电路的抗干扰能力。

在数字系统中,各逻辑电路之间的连线可能会受各种噪声的干扰,如:信号传输引起的噪声、信号高低电平转换引起的噪声(动态噪声)等。

噪声会叠加在工作信号上。因此数字系统的输入输出信号允许有一定的容差,容差最大幅度就称之为:噪声容限。噪声容限越大,其抗干扰能力越强。

0f3a1ec83c1b447db904ecf198064f73.jpeg


功耗

功耗有动态功耗静态功耗之分。

静态功耗:电路输出没有状态转换时的功耗。静态时CMOS管的电流很小,使静态功耗很低。

动态功耗:CMOS电路在输出发生状态转变时的功耗。分为两部分:电路输出状态转换瞬间的MOS管导通功耗负载功耗

对于导通功耗,在状态转换过程中有一瞬间NMOS管和PMOS管均导通,此时电流达到最大。对于此功耗可由下式表示:

eq?P_%7BT%7D%3DC_%7BPD%7DV_%7BDD%7D%5E%7B2%7Df

其中eq?f为输出信号的转换频率、eq?C_%7BPD%7D为功耗电容,不是实际的电容,与电压电源和工作频率有关。

对于负载功耗可由下式表示:

eq?P_%7BL%7D%3DC_%7BL%7DV_%7BDD%7D%5E%7B2%7Df

有此可得到电路的总的动态功耗:

eq?P_%7BD%7D%3D%28C_%7BPD%7D+C_%7BL%7D%29V_%7BDD%7D%5E%7B2%7Df


扇入与扇出系数(静态)

门电路的扇入数指输入端的个数,扇出数指输出端的个数。通常扇入数直接取决于输入端个数,扇出数要考虑在正常工作状态下所能携带同类型门电路最大数。

拉电流工作情况

当驱动门的输出端为高电平时,将有电流eq?I_%7BOH%7D从驱动门拉出流入负载门,负载门电流eq?I_%7BIH%7D

驱动门的输出电流需要向负载门的输入电容进行充电。随着负载门数的增加,所需的充电电流也会增大。当负载门数增加到一定程度时,驱动门无法提供足够的拉电流来保持高电平电压的稳定。因此,高电平电压会降低。

但不得低于高电平下限数,这就限制了负载个数。扇出数可表示为:

f3f8259d0e1a42a2bb32fc22ce9e3b1f.jpeg

灌电流工作情况

当驱动门输出端为低电平时,电流eq?I_%7BOL%7D将增加,引起低电平eq?V_%7BOL%7D升高。要保证不超过低电平上限:

20484c05e5704b6180eab05bc7971b37.jpeg

在实际工程设计中,如果eq?N_%7BOH%7D%5Cneq%20N_%7BOL%7D,取二者中的最小值。


延时-功耗积

若增加电源电压,电路的工作速度变快(传输延迟时间变小),但功耗会随之增加。

理想的数字系统既要速度高,也有功耗低,这是较难的。高速数字系统通常以较大功耗为代价。为了衡量这种性能,用延时-功耗积作为指标,记作DP,单位为焦耳(J):

eq?DP%3Dt_%7Bpd%7DP_%7BD%7D

一个逻辑门电路DP越小越接近理想状况。

 

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