tof系统标定流程步骤详解

1、tof标定概述

系统校准是一个减少ToF系统中系统误差影响的过程，如图1.1所示。本文件旨在介绍校准方法、设备和软件

1.1 系统误差

1.1.1 周期误差

谐波失真导致的相位（距离）相关误差。

1.1.2 固定相位模式噪声

由于解调信号的时延取决于可见像素位置以及VCSEL和传感器的未对准（这是几何误差），从而导致像素相关误差。

1.1.3 温漂

温度相关误差，因为相对于温度的时延可以在传感器的解调路径和VCSEL的调制路径中改变

1.1.4 镜头

透镜畸变、偏移和倾斜引起的几何误差。

1.2 整体标定步骤

ToF校准有两种类型
一次性校准：温度漂移校准通常只进行一次。
模组到模组（M2M）校准：摆动、镜头和FPPN具有每个模块的变化。每个模块都必须进行校准。

一次性校准
1） 预热模块10分钟后，在恒温下校准摆动和透镜FPPN。
2） 使用摆动和FPPN校准的数据获得参考深度。
3） 根据时间和环境温度获得温度漂移的统计数据。
4） 使用统计数据计算系数。

M2M校准
：在M2M校准过程中，