氮化物 SiN-Ni/AlN-Ni复合材料|氮化铝颗粒增强铝基复合材料|纳米氮化铝/纳米铝双纳米复合材料|多元硼硅酸玻璃+AlN低温共烧陶瓷材料

本文介绍了AIN作为电子封装材料的优势,如高热导率、低介电常数等,但其固溶Al2O3导致热导率下降。通过添加助烧结剂如Dy2O5,采用流延、冲孔、迭片等工艺制备了AlN陶瓷复合材料,并通过多种分析手段研究了其性能。实验涉及的复合材料包括氮化硅/氮化铝/镧钡铝硅酸盐微晶玻璃等。
摘要由CSDN通过智能技术生成

AIN具有高热导率[理论值可达319W(m·K)-1]、低介电常数、高电阻率及与硅相匹配的热膨胀系数,是新一代的电子封装材料。但由于在AlN中不可避免地固溶有Al2O3,导致产生铝空位而散射声子、使热导率大为降低。另外,由于AIN属共价键晶体,难以烧结.通常添加Y203,CaO,使其与Al2O3反应,在晶界生成Y-Al-O、Ca-Al-O化合物,从面减少AIN晶格中的Al2O3,提高热导率.同时,生成的液相可以促进烧结,使AIN陶瓷致密.为获得高热导率的AlN陶瓷,烧结温度通常高于1800 ℃.

实验用AIN 粉的比表面积为4.35m2-g-1,平均粒度为1.99um,氧含量为9.3(mg·g-1,下同).在AIN 粉中添加60mg-g-1的 Dy2O5等助烧结剂,加入溶剂、分散剂、粘结剂和增塑剂进行球磨混合,制得浆料进行流延..再将坯片冲孔,金属W布线,迭片(70℃,100Pa),最后切成30mm×30mm,排胶,烧成。工艺过程见图1

采用热分析仪(TGA,LCP-1)测量坯片失重;由二次离子质谱仪(SIM, Riber,MIQ-156)测定排胶后素坯表面成分(压力0.29uPa,离子源Cs+,能量10KeV,束流强度0.1uA);用综合热分析仪(Setaram, TMA92/18)测量基片烧成过程中的线收缩速率;用X衍射分析仪(Rigaku,MAX-RD)分析烧成

  • 0
    点赞
  • 0
    收藏
    觉得还不错? 一键收藏
  • 0
    评论
评论
添加红包

请填写红包祝福语或标题

红包个数最小为10个

红包金额最低5元

当前余额3.43前往充值 >
需支付:10.00
成就一亿技术人!
领取后你会自动成为博主和红包主的粉丝 规则
hope_wisdom
发出的红包
实付
使用余额支付
点击重新获取
扫码支付
钱包余额 0

抵扣说明:

1.余额是钱包充值的虚拟货币,按照1:1的比例进行支付金额的抵扣。
2.余额无法直接购买下载,可以购买VIP、付费专栏及课程。

余额充值