功耗:Leakage Power

本文详细介绍了CMOS电路的功率消耗类型,包括静态功率和动态功率。静态功率主要由泄漏电流引起,而动态功率则与电路的翻转和寄生电容充放电相关。时钟门控作为一种有效的降低动态功耗的方法,可以减少不必要的电路翻转并避免寄生电容的充放电,从而显著降低功耗。泄漏电流的主要来源如反向偏置PN结漏电流、亚阈值漏电流等也进行了讨论。
摘要由CSDN通过智能技术生成

在这里插入图片描述

1 CMOS电路Power分类:

  1. 静态电源
  2. 动态功率

静态功率是电路不活动或空闲时消耗的功率。即所有输入都处于保持有效电平,没有开关活动,并且电路没有充电。然而,即使在这种“稳定状态”下,器件中也会存在一些泄漏电流,这会导致泄漏功率。这种功耗不取决于输入条件或负载电容,而是取决于器件。

2 Leakage来源

1)Reverse bias-pn junction leakage current
2)Subthreshold leakage current

  • Drain-induced barrier lowering
  • Vth roll off
  • Effect of operating temperature
  • Tunneling into and through gate oxide leakage current
  • Leakage current due to hot carrier injection from the substrate to gate oxide
  • Leakage current due to gate-induced drain lowering (GIDL)

3 时钟门控如何降低动态功耗

3.1 时钟门控减少翻转

门控时钟会对时钟驱动的DFF因没有时钟驱动而不会存在反转,减少电路的翻转功耗,对动态功耗有明显降低。

3.2 时钟门控对DFF寄存器寄生电容充放电影响

时钟会在每个DFF寄存器上产生寄生电容,寄生电容在时钟反转过程中会产生充放电过程,需要从电源抽取电流,从而产生功耗。而时钟门控可以避免DFF上寄生电容的充放电过程,避免此类功耗产生。

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