模拟集成电路设计-MOS器件物理基础(模集系列持续更新)

学习目的

欠缺的学习路径:

  1. 固体物理,半导体器件物理,器件模型,电路设计。
  2. 所有的半导体器件都看成一个黑盒子,只关注端电压电流。
    最佳的学习路径:两手抓,因为有些二阶效应会影响到电路本身.
    本章节学习MOS器件的建模,研究MOS晶体管的结构然后推导它的I/V特性。会讲一些二阶效应,比如体效应、沟道长度调制效应和亚阈值传导等二级效应。会讨论下MOS的寄生电容问题,然后推导MOS的小信号模型及SPICE模型。

先验知识:掺杂、迁移率、pn结

基本概念

MOSFET开关

先讨论简化的模型MOS管

G、S、D分别表示简化模型中MOS管的三个端口,G是栅极(Gate),S是源极(Source),D是漏级(Drain)。在不施加任何电压的情况下MOS管是对称的,所以谁是源极谁是漏极就是看外部所加的电压。图示是一个n型的mos管,当我们给G极加高电平时,晶体管的漏级和源极就接到了一起,当我们给G极加低电平时,晶体管的漏极和源极就是断开的。

上面那段描述不是很精确,比如说多大的电压算高电平?(skip-1)器件导通(断开)时电阻多大?(skip-2)源漏电阻和各端电压有关系吗?(skip-3)有关系的话关系是怎么样的?我能不能用线性电阻来替代源漏之间的通路?器件的速度怎么样?【question-1】

看,我们提出了这么多疑问,接下来就慢慢的解答!


MOSFET 结构

在这里插入图片描述

上图是NMOS的器件结构图,可以理解成用显微镜看到的结构。至于怎么做出来的NMOS,可以看这篇文章【question-2】。看到上面这张图,我们来学习一下MOS的一个大致结构。p型衬底我们一般称为bulk或者body,在衬底上掺入杂质形成两个重掺杂的n区(将来就是源极和漏极)。整个结构上面那个凸起,也就是重掺杂的多晶硅区(poly)是栅极,用一层 S i O 2 SiO_2 SiO2(栅氧层)将栅极和衬底隔离开来。整个器件起作用就起在栅氧层下面的衬底部分。

接下来我们看几个认为规定的物理量:

  1. 栅长L和栅宽W:可以看到栅极长得像一个立方体,俯视图就是一个长方形,沿着源漏方向的栅极长度我们称为栅长 L L L,与之垂直的方向的栅的长度我们称之为栅宽 W W W(在集成电路工艺中往往 W W W> L L L,但是在数学中我们常常把矩形的短边称为宽)。
  2. 有效栅长 L e f f L_{eff} Leff :由于源和漏的扩散,导致实际的距离不会有 L L L
  3. L e f f = L d o w n − 2 L D L_{eff}=L_{down}-2L_{D} Leff=Ldown2LD L d r a w n L_{drawn} Ldrawn是总长度( L d r a w n L_{drawn} Ldrawn也是晶体管在画版图时的尺寸),而 L D L_{D} LD是横向扩散的长度。
  4. 氧化层厚度 t o x t_{ox} tox:表示栅氧层的厚度
    影响集成电路性能的关键参数: L e f f t o x L_{eff}\quad t_{ox} Lefftox

我们会产生一个疑惑:既然MOS是一个对称的结构,那为什么要把两个 n + n^{+} n+ 区域一个称为漏极,一个称为源极呢?(skip-4)
还有一个就是我们注意到MOS结构里面有衬底,我们还没有对衬底对整个器件的影响进行探讨。(skip-5)



实际上衬底的电位对器件的影响是很大的。我们不应该把MOS看成三端器件,而应该是四端的。常规的MOS工作状态我们需要保证源漏极和衬底组成的二极管处于反偏状态【question-2】,所以我们常常将NMOS的衬底接到系统最低电位。举个例子,整个电路工作在0~1.2V的话, V s u b N M O S = 0 V_{subNMOS}=0 VsubNMOS=0。我们通常通过如下图方式来实现衬底电位的施加。通过在衬底上掺杂出一个 p + p^+ p+区域然后再加电压。我们把衬底加电压的这一个端口称为B(bulk)端口。
在这里插入图片描述
如今我们常用的一种技术是互补MOS技术 (CMOS-Complementary MOS),这种技术同时使用PMOS和NMOS。根据上面NMOS的结构图我们可以简单的把各个掺杂区域取反得到PMOS的结构图,如下
在这里插入图片描述
但是实际上我们做芯片都是做在一块晶片上,这就意味着所有MOS的衬底都相同。所以我们不可能让一块衬底具有两种极性的掺杂。这就要求我们需要把其中一种MOS做在局部衬底上,并且我们把这种局部衬底称为“阱”,英文名是"well"。通常,现代CMOS工艺中,PMOS器件做在n阱里,如下图所示。
在这里插入图片描述
由于NMOS是做在一块大的p衬底上的,这就意味着我们给衬底加电压一般只有一个选择(要照顾到所有的NMOS),也就是说只能给NMOS的p衬底拉到系统最低电压。但是对于PMOS来说不一样,基本上是好几个PMOS做在一个阱中,那么我们可以给这几个PMOS的阱相同的电压,这个电压虽然说是高电压,但是没说一定要是系统最高电压,我可以让这个PMOS的B端电压等于S极电压,这都是NMOS所不具备的特点。这种特性有一定的应用。【question-3】

现代深n阱工艺

我们上面看到PMOS具有局部衬底这个特点,那我们其实可以仿照这种形式给NMOS也设计一个阱。下图这种形式就是深n阱工艺,这会导致面积开销。那优点呢?【question-4】
在这里插入图片描述

MOS符号

  1. 数字和模拟中习惯的MOS表达方式不一样
  2. MOS符号某些时候能反映MOS的加压方式
第一种画法

这是最常规的MOS符号,把MOS的每个端子都标识出来了,通常NMOS的N极我们放到下面,PMOS的S极我们放上面,因为通常NMOS的源极接低电压,PMOS的源极接高电压。

第二种画法

在这里插入图片描述

这种画法把B给删掉了,大多数电路中,NMOS的bulk接地,PMOS的bulk接VDD。

第三种画法

在这里插入图片描述

在数字电路中我们往往只把MOS当成一个开关来看,不太关注电流的流向,所以我们会发现MOS的箭头没了,区分NMOS和PMOS的方法就是看栅极有没有小圆圈。有小圆圈表示低电平导通,那就是PMOS,反之则是NMOS。

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### 回答1: 《用于VLSI模拟的小尺寸MOS器件模型理论与实践PDF》是一本关于微型金属氧化物半导体(MOS器件模型的理论与实践的电子书。该书详细介绍了现代VLSI(Very Large Scale Integration)芯片设计中常用的MOS器件模型理论和实践。 该书首先介绍了MOS器件的基本原理和结构,包括MOSFET的工作原理、结构特征和工艺制造过程。接着,该书入探讨了小尺寸MOS器件模型的建立与验证方法。其中,包括了模拟与数字设计中常用的MOS器件模型,如BSIM(Berkeley Short-channel IGFET Model)系列模型等。 此外,该书还介绍了MOS器件中常见的参数提取技术。这些技术可以通过实验手段获取到MOS器件的电气参数,从而准确地描述其电性能。参数提取是VLSI芯片设计中至关重要的一环,它对于设计师来说具有指导意义。 《用于VLSI模拟的小尺寸MOS器件模型理论与实践PDF》还通过具体的案例分析,展示了如何在实际VLSI设计中应用MOS器件模型。通过实践中的应用,读者可以更好地理解和掌握MOS器件模型的建立和应用方法。 总的来说,该书通过理论和实践相结合的方式,详细介绍了VLSI中广泛应用的小尺寸MOS器件模型的建立与应用。读者可以通过该书学习到MOS器件的基本原理、模型建立方法和参数提取技术,从而提升自己在VLSI设计领域的能力。 ### 回答2: 《用于VLSI模拟的小尺寸MOS器件模型理论与实践PDF》是一本介绍VLSI模拟及其相关理论和实践的书籍。VLSI(Very Large Scale Integration)是指超大规模集成电路技术,MOS(Metal Oxide Semiconductor)是其中一种常用的器件类型。 这本书主要着重介绍了在VLSI模拟中使用的小尺寸MOS器件模型的理论和实践。小尺寸MOS器件是指晶体管尺寸较小、绝缘层较薄的器件。相较于大尺寸器件,小尺寸MOS器件具有更高的集成度和更好的性能,因此在现代电子器件中得到广泛应用。 该书首先介绍了小尺寸MOS器件的基本原理,包括MOS结构、工作原理和特性等。然后阐述了小尺寸MOS器件模型的理论基础,包括各种电流模型、电容模型和电阻模型等。这些模型是在VLSI设计和模拟中对MOS器件进行数学建模和仿真的基础。 接着,该书详细介绍了小尺寸MOS器件模型的实际应用和参数提取技术。它讲解了如何根据MOS器件物理特性和实际测量数据,来确定模型的各个参数。这些参数包括了电流模型中的阈值电压、电流增益和互补电导等,以及电容模型中的电荷和电压关系等。 最后,该书还涵盖了小尺寸MOS器件模型在VLSI模拟中的应用案例和实验室实践。这些案例包括振荡器、滤波器和放大器等电路的设计和仿真,以及器件参数的优化和对比分析等。 总的来说,《用于VLSI模拟的小尺寸MOS器件模型理论与实践PDF》是一本介绍小尺寸MOS器件模型及其应用的专业书籍,适合从事VLSI设计、模拟和参数提取的工程师和研究人员阅读和参考。 ### 回答3: "用于VLSI模拟的小尺寸MOS器件模型理论与实践"是一本关于微电子器件模型的理论与实践应用的PDF文件。 VLSI(Very Large-Scale Integration,超大规模集成电路)是目前集成度最高的电子设备制造技术之一。而MOS(金属氧化物半导体)器件则是VLSI芯片中最常见的晶体管结构。因此,研究MOS器件的模型理论是实现高性能VLSI芯片设计的关键一环。 这本PDF文件主要介绍了小尺寸MOS器件模型在VLSI领域中的理论基础和实践应用。小尺寸MOS器件模型是在厘米尺度以下设计的集成电路中常用的模型。相比于传统的晶体管模型,小尺寸MOS器件模型能更准确地描述电荷输运、载流子浓度、电场分布等复杂现象。 这本书首先介绍了MOS器件物理模型的基本原理,包括载流子分布、电流传输等概念。随后,详细阐述了不同类型的小尺寸MOS器件模型,如单极性器件、二极性器件等。每一种模型都给出了详细的数学推导和理论分析。同时,还介绍了现代集成电路设计中常用的一些小尺寸MOS器件模型的变种和扩展。 此外,这本书还涵盖了小尺寸MOS器件模型在实践中的应用。详细介绍了如何使用电磁仿真软件对MOS器件进行模拟和优化设计。此外,还介绍了小尺寸MOS器件模型在射频电路、信号处理等领域的应用案例。 总体而言,"用于VLSI模拟的小尺寸MOS器件模型理论与实践"是一本综合介绍VLSI芯片设计中小尺寸MOS器件模型理论与实践的书籍,对于想要入了解和应用MOS器件模型的研究人员和工程师来说,具有很高的参考价值。

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