SDEVICE的收敛性问题

收敛性问题存在的原因：

1、收敛次数不够

2、电学边界条件设置不好引起的不收敛

3、初始解的不收敛

4、工艺仿真中网格设置的不好

详细介绍

1、迭代次数不够

设置的判别不收敛的条件太过苛刻
这种假性的不收敛在迭代过程中有着以下特征之一:
①误差项有逐渐减小的趋势或呈阻尼振荡状，但是在小于1之前，却因为迭代次数上限达到而结束。
②迭代失败的次数很少，但是仿真步长很快就达到了最小值，仿真结束。

解决方法：
(1) lterations尽量设置的大一点
(2) 设定minstep和 interations，minstep的数值至少比initialstep少3个数量级

2、电学边界条件设置不好引起的不收敛

这种情况一般发生在雪崩击穿电压的附近，无法完成低压区到雪崩击穿区的转变。

产生原因:击穿点附近，电流变化太迅速，基于原来的初始解A，通过一个仿真步长，电压变化△V，此时假定下一点处于B点，而假定点B和真实点C之间的电流变化量△l太大，程序无法通过迭代获得正确点，因此始终无法收敛。

解决方法：

3、初始解的不收敛

初始解的不收敛就是仿真的第一个点就无法收敛:
①由于初始解具有较大的随机性，因此当它进行迭代的时候，如果要同时满足多个方程的收敛相对较为困难;
②由于某个电极上的初始电压值给得过高，难以建立初始解。

①的解决方案：

②的解决方案：

4、工艺仿真中网格设置的不好

解决方法：
调整优化网格

文章内容摘自：https://max.book118.com/html/2017/0414/100262265.shtm
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