在最近的一个设计中遇到了这样一个问题。我在Block Design中例化了XDMA,并通过interconnect连接了3个BRAM控制器,3个BRAM控制器的端口引出到Block Design外部。XDMA通过C2H接口对前两个RAM只进行读操作,通过C2H和H2C接口对第三个RAM进行读写操作。三个RAM都在Block Design外部(即HDL代码部分)例化。
验证时,前两个RAM的读数据正常,第三个RAM的读数据比对错误。由于个人疏忽,解决该问题花了四五个小时。首先对自己的HDL代码进行了检查,未发现问题。为了定位问题点,我在Block Design内部例化了第四个BRAM(使用双口RAM),并通过计算机进行写读和比对操作,发现数据完全正确。通过此方法基本确认问题发生在HDL代码部分。
接下来通过ILA分析外部RAM的写时序,发现RAM的字节写使能信号WEA在几十个写操作后,会突然开始比写地址提前一个周期出现,导致多次将后续数据写入00地址。
通过逐一对比Block Design中BRAM控制器引出的端口和外部BRAM的端口,发现内部BRAM控制器没有使能或关闭字节写使能(WEA)信号的选项,而外部例化的BRAM具有该选项。我在设计时,习惯性的未使能该端口,所以实际上只使用了BRAM控制器的WEA作为写使能信号。那么问题很可能出在这里。
外部BRAM使能WEA端口,并将端口连接至BRAM控制器后,上述问题解决。