半导体材料技术
参考文献链接
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半导体硅片
半导体材料是一类具有半导体性能(导电能力介于导体与绝缘体之间)、可用来 制作半导体器件和集成电路的电子材料,是半导体工业的基础。半导体材料的研 究始于 19 世纪,至今已发展至第四代半导体材料,各个代际半导体材料之间互相补充。
• 第一代半导体:以硅(Si)、锗(Ge)等为代表,是由单一元素构成的元素 半导体材料。硅半导体材料及其集成电路的发展导致了微型计算机的出现和 整个信息产业的飞跃。
• 第二代半导体:以砷化镓(GaAs)、磷化铟(InP)等为代表,也包括三元化 合物半导体,如 GaAsAl、GaAsP,还包括一些固溶体半导体、非静态半导体 等。随着以光通信为基础的信息高速公路的崛起和社会信息化的发展,第二 代半导体材料显示出其优越性,砷化镓和磷化铟半导体激光器成为光通信系 统中的关键器件,同时砷化镓高速器件也开拓了光纤及移动通信的新产业。
• 第三代半导体:以氮化镓(GaN)、碳化硅(SiC)、氧化锌(ZnO)为代表的 宽禁带半导体材料。具备高击穿电场、高热导率、高电子饱和速率及抗强辐 射能力等优异性能,更适合于制作高温、高频、抗辐射及大功率电子器件, 在半导体照明、新一代移动通信、能源互联网、高速轨道交通、新能源汽车、 消费类电子等领域有广阔的应用前景。
• 第四代半导体:以氧化镓(Ga2O3)、金刚石(C)、氮化铝(AlN)为代表的 超宽禁带半导体材料,禁带宽度超过 4eV;以及以锑化物(GaSb、InSb)为 代表的超窄禁带半导体材料。超宽禁带材料凭借其比第三代半导体材料更宽 的禁带,在高频功率器件领域有更突出的特性优势;超窄禁带材料由于易激 发、迁移率高,主要用于探测器、激光器等器件的应用中。
硅材料制造全球绝大部分的半导体产品,也是占比最大的半导体制造材料。在 1950 年代初期,锗是主要的半导体材料。但锗半导体器件的耐高温和抗辐射性能 较差,到 1960 年代逐渐被硅材料取代。由于硅器件的漏电流要低得多,且二氧化 硅是一种高质量的绝缘体,很容易作为硅器件的一部分进行整合,至今半导体器 件和集成电路仍然主要用硅材料制成,硅产品构成了全球绝大部分半导体产品。
半导体硅片根据不同参数的分类
半导体硅晶圆(Semiconductor Silicon Wafer)是制造硅半导体产品的基础,可 根据不同参数进行分类。
根据尺寸(直径)不同,半导体硅片可分为 2英寸(50mm)、3英寸(75mm)、4英寸(100mm)、5英寸(125mm)、6英寸(150mm)、8英寸(200mm)、12英寸 (300mm),在摩尔定律影响下,半导体硅片正在不断向大尺寸的方向发展,目前 8 英寸和 12 英寸是主流产品,合计出货面积占比超过90%。
根据掺杂程度不同,半导体硅片可分为轻掺和重掺。重掺硅片的掺杂元素掺入量 大,电阻率低,一般用于功率器件等产品;轻掺硅片掺杂浓度低,一般用于集成电 路领域,技术难度和产品质量要求更高。由于集成电路在全球半导体市场中占比 超过 80%,全球对轻掺硅片需求更大。
根据工艺,半导体硅片可分为研磨片、抛光片及基于抛光片制造的特殊硅片外延 片、SOI 等。研磨片可用于制造分立器件;轻掺抛光片可用于制造大规模集成电 路或作为外延片的衬底材料,重掺抛光片一般用作外延片的衬底材料。相比研磨 片,抛光片具有更优的表面平整度和洁净度。
在抛光片的基础上,可以制造出退火片、外延片、SOI 硅片和结隔离硅片等。退 火片在氢气或氩气环境下对抛光片进行高温热处理,以去除晶圆表面附近的氧气, 可以提高表面晶体的完整性。外延片是在抛光片表面形成一层气相生长的单晶硅, 可 满 足 需 要 晶 体 完 整 性 或 不 同 电 阻 率 的 多 层 结 构 的 需 求 。SOI 硅 片 (Silicon-On-Insulator)是在两个抛光片之间插入高电绝缘氧化膜层,可以实 现器件的高集成度、低功耗、高速和高可靠性,在活性层表面也可以形成砷或砷 的扩散层。结隔离硅片是根据客户的设计,利用曝光、离子注入和热扩散技术在 晶圆表面预形成 IC 嵌入层,然后再在上面生长一层外延层。
根据应用场景不同,半导体硅片可分为正片、假(陪)片。正片(Prime Wafer) 用于半导体产品的制造,假片(Dummy Wafer)用来暖机、填充空缺、测试生产设 备的工艺状态或某一工艺的质量状况。假片一般由晶棒两侧品质较差部分切割而 来,由于用量巨大,在符合条件的情况下部分产品会回收再利用,回收重复利用 的硅片称为可再生硅片(Reclaimed Wafer)。据观研网数据,65nm 制程的晶圆 代工厂每 10 片正片需要加 6 片假片,28nm 及以下制程每 10 片正片则需要加 15-20 片假片。
半导体硅片制造流程复杂,主要包括拉单晶和硅片的切磨抛外延等工艺。半导体 硅片的生产流程复杂,涉及工序较多。研磨片工序包括拉单晶、截断、滚圆、切 片、倒角、研磨等,抛光片是在研磨片的基础上经边缘抛光、表面抛光等工序制 造而来;抛光片经外延工艺制造出硅外延片,经退火热处理制造出硅退火片,经 特殊工艺制造出绝缘体上硅 SOI。硅片制造过程中需要经过多次清洗,在销售给 客户之前还需要经过检验和包装。
步骤一:拉单晶。电子级高纯度多晶硅通过单晶生长工艺可拉制成单晶硅棒,常 用方法有直拉法(Czochralsk,CZ 法)和区熔法(Float-Zone,FZ 法)两种。FZ 法纯度高,氧含量低,电阻率较高,能耐高压